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          產(chǎn)品展廳

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          發(fā)布詢價單
          日立分析儀器(上海)有限公司

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          超快時間分辨光譜測試系統(tǒng)

          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱 北京卓立漢光儀器有限公司
          • 品牌 ZOLIX/卓立漢光
          • 型號
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時間 2024/5/20 21:43:55
          • 訪問次數(shù) 1632
          產(chǎn)品標簽

          光譜

          聯(lián)系方式:市場部查看聯(lián)系方式

          聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


          北京卓立漢光儀器有限公司是一家集光學、精密機械、電子、計算機技術(shù)于一體的高*技術(shù)企業(yè)。卓立漢光自1999年起,通過數(shù)年的不斷努力,成長為光電儀器廠商之一。目前公司的電控位移臺、手動位移臺、光學調(diào)整架等產(chǎn)品已經(jīng)形成產(chǎn)品系列化,規(guī)格多元化,國內(nèi)多家科研單位、激光加工設(shè)備廠商、光纖設(shè)備廠商在使用我們的產(chǎn)品。2000年推出我司套量產(chǎn)型三光柵光譜儀后,不斷推出了多套熒光、拉曼、光電探測器光譜響應、太陽能電池檢測等光譜測量系統(tǒng),廣泛應用在眾多高校和科研院所的研究與試驗,為國家科技創(chuàng)新貢獻了一份力量,產(chǎn)品憑借優(yōu)良的品質(zhì)遠銷歐美、東南亞等海外市場。 2005年10月在同行業(yè)中通過ISO9001質(zhì)量管理體系SGS認證。2010年取得國家高*技術(shù)企業(yè)認定,2016年卓立漢光技術(shù)中心順利通過市級技術(shù)中心評審。

           

          卓立漢光主要生產(chǎn)經(jīng)營:熒光/拉曼光譜系統(tǒng)、各類光譜測量系統(tǒng)、太陽能電池檢測儀器、光柵光譜儀、各類型光源及探測器、電控精密位移臺、手動精密位移臺、光學調(diào)整架、光學平臺、光學元件等系列產(chǎn)品。


          我們誠心聆聽用戶的需要與批評,作為不斷改進的動力,能讓您滿意卓立漢光的產(chǎn)品及服務,就是我們的成就。因此我們以卓立漢光的光機產(chǎn)品提供 “終身保固”的承諾,來表達我們對產(chǎn)品的信心。


          我們堅持從設(shè)計、零件選型、制造、裝配、檢驗、包裝、運輸、直到售后服務做好*質(zhì)量保證,就是要讓您 “付有所值”,以合理的價位得到優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品,這是我們對您選擇卓立漢光真誠的回報。

          卓立漢光始終以滿足用戶需求為宗旨,分別于上海、深圳、成都、西安設(shè)立分公司,為用戶提供及時周到的銷售與技術(shù)服務。“研發(fā)創(chuàng)新、快速反應、優(yōu)質(zhì)服務” 是我們的經(jīng)營理念, 公司長期重視優(yōu)質(zhì)高效、短時間為客戶開發(fā)產(chǎn)品及提供技術(shù)支持。卓立漢光真誠地希望與國內(nèi)外同仁攜手合作,為推動我國光電產(chǎn)業(yè)迅猛發(fā)展做出貢獻。

           

           

           

          光譜儀,拉曼光譜,熒光光譜,太陽能電池檢測,位移臺,滑臺,光學調(diào)整架,電動滑臺,光學平臺,光學元件

          應用領(lǐng)域 綜合

          系統(tǒng)主要功能指標:

          • 寬光譜測量范圍:UV-VIS-NIR, 200-900nm;

          • 高系統(tǒng)時間分辨率: <=5ps

          • 壽命衰減測量時間范圍:<=50ps—100us 

          • 高系統(tǒng)光譜分辨率: <0.1nm

          • 寬單次成譜范圍:  >=200nm

          • 靜態(tài)(穩(wěn)態(tài))光譜采集,

          • 瞬態(tài)時間分辨光譜圖像及熒光壽命曲線

          • 系統(tǒng)集成整體控制及數(shù)據(jù)處理軟件

          超快時間分辨光譜系統(tǒng) 是由光譜儀、超快探測器、耦合光路、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)處理軟件組成。光譜儀對入射光信號進行分光,分光光譜耦合到超快探測器,入射光由透鏡聚焦在陰極上,激發(fā)出的光電子通過陽極加速,入射到偏轉(zhuǎn)場中的電極間,此時電壓加在偏轉(zhuǎn)電極上,光電子被電場偏轉(zhuǎn),激射熒光屏,以光信號的形式成像在熒光屏上。轉(zhuǎn)換后的光信號還可以再通過圖像增強器進行能量放大,并在圖像增強器的熒光屏上成像。最后通過制冷相機采集熒光屏上信號。因為電子的偏轉(zhuǎn)與其承受的偏轉(zhuǎn)電場成正比,因此,通過電極的時間差就可以作為熒光屏上條紋成像的位置差被記錄下來,也就是將入射光的時間軸轉(zhuǎn)換成了熒光屏空間軸。系統(tǒng)控制軟件用于整個系統(tǒng)的參數(shù)設(shè)置、功能切換、數(shù)據(jù)采集等,圖像工作站用于采集數(shù)據(jù)處理分析


          主要應用方向

          • 超快化學發(fā)光

          • 超快物理發(fā)光

          • 超快放電過程

          • 超快閃爍體發(fā)光

          • 時間分辨熒光光譜,熒光壽命,

          • 半導體材料時間分辨PL譜

          • 鈣鈦礦材料時間分辨PL譜

          • 瞬態(tài)吸收譜,時間分辨拉曼光譜測量

          • 光通訊,量子器件的響應測量

          • 自由電子激光,超短激光技術(shù)

          • 各種等離子體發(fā)光 

          • 湯姆遜散射,激光雷達

          • 。。。。。。

           

          光譜儀建議選型參數(shù)列表

          光譜儀型號

          Omni-λ2002i

          Omni-λ3004i

          Omni-λ5004i

          Omni-λ7504i

          光譜儀焦距

          200mm

          320mm

          500mm

          750mm

          相對孔徑

          F/3.5

          F/4.2

          F/6.5

          F/9.7

          光譜分辨率(1200l/mm)

          0.3nm

          0.1nm

          0.08nm

          0.05nm

          波長準確度

          +/-0.2nm

          +/-0.2nm

          +/-0.15nm

          +/-0.1nm

          倒線色散(1200l/mm)

          3.6nm/mm

          2.3nm/mm

          1.7nm/mm

          1.1nm/mm

          光柵尺寸

          50*50mm

          68*68mm

          68*68mm

          68*68mm

          光柵臺

          雙光柵

          三光柵

          三光柵

          三光柵

          與探測器耦合

          中繼光路1:1耦合,配合二維焦面精密調(diào)節(jié)一體化底板

          系統(tǒng)光譜分辨率(1200l/mm)

          <=0.3nm

          <=0.2nm

          <=0.1nm

          <0.08nm

          一次攝譜范圍(150 l/mm)

          >230nm

          >150nm

          >90nm

          >60nm

          光譜儀入口選項

          光纖及光纖接口,標準熒光樣品室,鏡頭收集耦合,共聚焦顯微收集耦合等


          多系統(tǒng)靈活組合

          超快時間分辨光譜測試系統(tǒng)既可以與飛秒超快光源配合完成獨立的光譜測試,也可以與卓立漢光的其他系統(tǒng)比如 TCSPC, RTS&FLIM顯微熒光壽命成像系統(tǒng),TAM900寬場瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng),以及低溫制冷室,飛秒&皮秒激光器等配合完成更為復雜全面的超快測試。

          Zolix其他可配合超快測量系統(tǒng)

          lRTS2& FLIM 顯微熒光壽命成像系統(tǒng)

          • 光譜掃描范圍:200-900nm(可拓展)

          • 最小時間分辨率:16ps

          • 熒光壽命測量范圍:500ps-1μs@ 皮秒脈沖激光器

          • 激發(fā)源: 375nm- 670nm 皮秒脈沖激光器可選,或使用飛秒光源

          • 科研級正置顯微鏡及電動位移臺

          • 空間分辨率:≤1μm@100X 物鏡@405nm 皮秒脈沖激光器

          • OmniFluo-FM 熒光壽命成像專用軟件


          Omni-TAM900 寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)

          • 測量模式:

          • 1:點泵浦-寬場探測:測量載流子遷移和熱導率等;

          • 2:寬場泵浦-寬場探測:測量載流子分布和物理態(tài)的空間異質(zhì)性等。

          • 探測器:sCMOS相機

          • 成像空間分辨率:優(yōu)于500nm

          • 載流子遷移定位精度 優(yōu)于30nm

          • 時間延時范圍:0-4ns或0-8ns可選

          • 搭配倒置顯微鏡,可兼容低溫,探針臺,電學調(diào)控等模塊


          <20ps 的鈣鈦礦薄膜ASE 發(fā)光壽命曲線

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