Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡
參考價(jià) | ¥10000000-¥15000000 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 所在地上海
- 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間2024/8/28 12:48:30
- 訪問次數(shù) 1414
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- 【電池檢測】鋰離子電池的多尺度三維成像方案02月21日
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 700萬-1500萬 |
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儀器種類 | 場發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡介紹
一直以來,Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的電子和離子光學(xué)系統(tǒng)、配件和軟件,能夠?yàn)榧{米量級(jí)研究提供強(qiáng)大的解決方案。對于從事納米技術(shù)前沿研究的科學(xué)家,Helios NanoLab 能讓他們拓展研究邊界,為材料研究開辟新的天地。
借助價(jià)值的亞納米 SEM 成像技術(shù)、S/TEM 超薄樣本制備能力以及精確的原型設(shè)計(jì)功能,科學(xué)家能夠?qū)?Helios NanoLab 當(dāng)作理想的研究伴侶,為未來的科技進(jìn)步開發(fā)創(chuàng)新的新材料和納米量級(jí)器件。
Helios NanoLab 的材料科學(xué)應(yīng)用
在材料科學(xué)領(lǐng)域,研究人員面臨的挑戰(zhàn)是持續(xù)改善目前制造的材料和設(shè)備的質(zhì)量。為了實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步,在納米量級(jí)了解結(jié)構(gòu)和成分細(xì)節(jié)至關(guān)重要。Helios NanoLab 設(shè)計(jì)用來以低至亞納米量級(jí)的分辨率提供多尺度、多維度洞察,讓研究人員能夠觀測樣本最微小的細(xì)節(jié)。Helios NanoLab 還可為原子分辨率 S/TEM 成像迅速制備最高質(zhì)量的樣本。此外,如果研究工作包括開發(fā) MEMS 或 NEMS 器件,也可配備 Helios NanoLab 打造全功能原型。
Helios NanoLab 的電子工業(yè)應(yīng)用
Helios NanoLab 是一款極其靈活的平臺(tái),既能以很高的效率制備 TEM 樣本,又能開展高性能低電壓成像以分析高級(jí)邏輯和存儲(chǔ)器件。Helios Nanolab 具有大型和小型樣本室兩個(gè)配置,效率高,并且是面向?qū)嶒?yàn)室和近生產(chǎn)環(huán)境的低每樣本成本半導(dǎo)體分析工作流的關(guān)鍵組成部分。
Helios NanoLab 的自然資源應(yīng)用
地質(zhì)學(xué)家和礦藏工程師可以使用 Helios NanoLab 技術(shù)對鉆屑和微芯開展二維和三維巖石表征。它利用的 DualBeam 技術(shù)特色,博采 FIB(聚焦離子束)銑削和 SEM(掃描電子顯微鏡)分析之長。借助自動(dòng)化序列樣本銑削和成像功能,客戶可以創(chuàng)建二維序列圖像,進(jìn)而開展三維容積重建。根據(jù)這些數(shù)據(jù),客戶可以在微米至納米量級(jí)別觀測和量化孔隙網(wǎng)絡(luò)等紋理。
Helios NanoLab 的生命科學(xué)應(yīng)用
要想在三維背景下了解生物事件,就必須采用專用的成像解決方案,而且這些成像解決方案應(yīng)能以很高的分辨率呈現(xiàn)極小的細(xì)節(jié),從而揭示出復(fù)雜網(wǎng)絡(luò)的超微結(jié)構(gòu)和空間結(jié)構(gòu)。Helios NanoLab 具有 SEM 性能和可靠、精確的 FIB 切片能力,還配備了高精度壓電工作臺(tái),堪稱小型 DualBeam 平臺(tái)的之選。出色的成像能力,輔以透鏡內(nèi)和柱內(nèi)檢測器提供的高對比度檢測技術(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)真正對比度。