一、儀器簡介：

建筑工程質(zhì)量檢測器組校準裝置是我公司嚴格按照《JF1110-2003建筑工程質(zhì)量檢測器組校準規(guī)范》研發(fā)生產(chǎn)的，用來檢測建筑工程質(zhì)量檢測器組中垂直檢測尺，內(nèi)外直角檢測尺、楔形塞尺的示值誤差的專用校準裝置。該裝置的垂直主體采用穩(wěn)定性很好的花崗巖，高精度測微頭，能夠調(diào)整水平的花崗巖底座組成。

二、儀器組成：

該校準裝置由XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置和XR-300Z型內(nèi)外直角檢測尺校準裝置兩臺儀器組成。XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置用于檢測垂直檢測尺的示值誤差，XR-300Z型內(nèi)外直角尺校準裝置用于檢測內(nèi)外直角檢測尺和楔形塞尺的示值誤差。

三、工作原理：

建筑工程質(zhì)量檢測器組校準裝置采用比較法測量，由數(shù)顯測微頭行進距離與回轉軸軸線、導軸軸線間距離L1之比組成標準角β1(sinβ1= L1/R)，比較測量垂直度檢測尺轉角β2(sinβ2=L2/R)的示值誤差,其原理是采用數(shù)顯測微頭螺旋副等進傳動原理，使螺桿的回轉運動變?yōu)橹本€運動，將垂直度檢測尺的角位移轉化為直線位移，用線值表示示值誤差ΔL=L2-L1。

測量原理：L1：數(shù)顯測微頭行進距離mm；L2：垂直度檢測尺示值mm；β1：標準角；β2：垂直度檢測尺轉角；R：回轉軸軸線、導軸軸線間距離mm；ΔL：示值誤差：mm。

三、XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置的結構圖和技術參數(shù)：

1、結構圖如下圖所示：

2、技術參數(shù)：

（1）型號：XR-2000C型；

（2）高度：1980±1mm；

（3）數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

（4）數(shù)顯測微頭行程：0-50mm；

（5）數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm。

四、XR-300Z型內(nèi)外直角尺校準裝置的結構圖和技術參數(shù)：

1、結構圖如下圖所示：

2、技術參數(shù)：

（1）型號：XR-300Z；

（2）高度：300mm；

（3）寬度：250mm；

（4）厚度：50mm；

（5）工作面的相互垂直度：0.01mm/300；

（6）工作面的平面度：0.005mm；

（7）數(shù)顯測微頭分辨力：0.001mm/m；

（8）數(shù)顯測微頭行程：0-25mm；

（9）數(shù)顯測微頭誤差：±0.004mm；

（10）花崗巖平板的平面度：0.005mm（800X300X150）；

（11）花崗巖外形尺寸：（800X300X150）mm。

五、儀器配置：

1、XR-2000C型垂直度檢測尺校準裝置：1臺（含第三方計量證書）；

2、XR-300Z型內(nèi)外直角檢測尺校準裝置（含楔形塞尺檢測支架）：1臺（含第三方計量證書）；

3、水平調(diào)整支腳：1套；

4、使用說明書：1份；

5、出廠合格證書：1份；

6、產(chǎn)品保修卡：1份；

7、產(chǎn)品裝箱清單：1份。