一、NTA納米顆粒跟蹤分析儀的簡(jiǎn)介：

（1）Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運(yùn)動(dòng)成為現(xiàn)代的分析手段。自動(dòng)校準(zhǔn)和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶眼見(jiàn)為實(shí)，更加直觀人性化。通過(guò)子體積的掃描，來(lái)自于數(shù)以千計(jì)的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計(jì)算出來(lái)。此外，顆粒濃度也可以通過(guò)視頻計(jì)數(shù)分析得到。

（2）ZetaView的特點(diǎn)-全自動(dòng)和無(wú)源穩(wěn)定性。

（3）自動(dòng)校準(zhǔn)程序會(huì)持續(xù)工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設(shè)計(jì)提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過(guò)掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統(tǒng)計(jì)結(jié)果。有3種測(cè)量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

二、優(yōu)勢(shì)分析：

自動(dòng)掃描，最多可達(dá)100個(gè)子體積；  

自動(dòng)聚焦；  

小巧，便于攜帶；  

防震動(dòng)；  

光源從紫外線到紅光；  

插入式樣品池。  

三、理論：

平移擴(kuò)散常數(shù)可通過(guò)直接觀測(cè)待測(cè)顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)計(jì)算得到。通過(guò)測(cè)試電泳遷移率，可以得到zeta電位。  

納米粒子跟蹤分析（NTA）和動(dòng)態(tài)光散射（DLS）所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問(wèn)題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。
動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的最檢測(cè)限是0.5nm，對(duì)于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測(cè)限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對(duì)于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，zetaview可以非常圓滿的完成檢測(cè)任務(wù)。相反，對(duì)于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。

四、測(cè)量范圍：

測(cè)量范圍依賴于樣品和儀器。對(duì)于金樣品，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測(cè)下限為10nm；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測(cè)下限會(huì)變得更大。假如樣品穩(wěn)定，不會(huì)沉淀或漂浮，zeta電位測(cè)量的粒徑上限為50微米，對(duì)于粒徑測(cè)量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計(jì)數(shù)顆粒濃度可通過(guò)視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對(duì)粒徑。可檢測(cè)的最小濃度為105粒子/cm3，最大為109粒子/cm3。對(duì)于200nm的顆粒，最大體積濃度為1000ppm。

五、準(zhǔn)確度和精度參數(shù)：

Zeta電位：準(zhǔn)確度5mv，精度4mv，重現(xiàn)性5mv；  

粒度測(cè)試（對(duì)于100納米的標(biāo)準(zhǔn)乳膠顆粒）：準(zhǔn)確度6nm，精度4nm，重現(xiàn)性4nm；  

濃度測(cè)試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準(zhǔn)確度0.8Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現(xiàn)性1Mio/ml；  

只要相機(jī)設(shè)置正確，樣品處理適當(dāng)，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效。  

六、方法：Zetaview激光散射顯微鏡對(duì)于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。

NTA納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView信息由斑馬魚(yú)（北京）科技有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎咨詢。

七、技術(shù)參數(shù)：