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          EDX-5000 PLUS XRF Spectr 礦產(chǎn)礦石專用分析儀

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司
          • 品牌 英飛思
          • 型號 EDX-5000 PLUS XRF Spectr
          • 產(chǎn)地 唯新路69號一能科技園2幢407
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時間 2024/10/29 21:35:10
          • 訪問次數(shù) 1043

          聯(lián)系方式:張經(jīng)理查看聯(lián)系方式

          聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


          公司簡介:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司,坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。公司專注于X射線熒光光譜儀的研發(fā),生產(chǎn)和應(yīng)用。基于多年的技術(shù)積累和沉淀,英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態(tài)研發(fā)和制造技術(shù),包括50瓦,100瓦高壓發(fā)生裝置,50瓦光管的封裝工藝,數(shù)字多道分析器(DPP),控制電路板的設(shè)計(jì)和研發(fā),基本參數(shù)法(FP)軟件著作權(quán)等。

          我們不僅能提供整套光譜儀定制服務(wù),而且能夠提供專業(yè)而系統(tǒng)的元素成分分析解決方案,以滿足客戶日益嚴(yán)苛而高標(biāo)準(zhǔn)的測試需求。

          公司英文全稱:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd

          英文縮寫:ESI

          公司口號: Simply the best

          公司產(chǎn)品:XRF熒光光譜元素分析儀(臺式,便攜式,手持式,全系列光譜儀)

          XRF特點(diǎn):無損測試,快速檢測,準(zhǔn)確分析

          應(yīng)用行業(yè)

          貴金屬,珠寶首飾,稀有金屬

          合金元素分析,牌號識別PMI,稀土,有色金屬

          礦產(chǎn),地礦

          土壤重金屬

          石油,化工(石油中低硫測試,油品中金屬元素分析,船舶用油)

          有害元素檢測(RoHS 2.0,玩具,皮革,無鹵分析)

          鍍層測厚

          催化劑

          古董,考古

          食品安全,化妝品,藥品重金屬分析

          建材,水泥,陶瓷,玻璃

          液體及各種粉末等元素測試






          光譜儀,熒光光譜儀,XRF,Rohs檢測儀,合金分析儀,測金儀,測硫儀,古董分析儀,礦石分析儀,土壤分析儀,測厚儀,手持式光譜儀,鍍層測厚儀

          價(jià)格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 通用
          儀器種類 臺式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,石油,地礦,電子,綜合

          EDX-5000 PLUS XRF Spectr礦產(chǎn)礦石專用分析儀

          礦產(chǎn)礦石專用分析儀

          Simply the Best

          >*制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

          >真空光路配備薄膜濾光片技術(shù),提高輕元素檢出限

          >可同時分析40種元素

          >可分析固體,液體,粉末和泥漿

          >yuan裝進(jìn)口X光管管芯提供可靠zhuo越樣品激發(fā)性能

          >無損檢測,快速分析(1-2分鐘出結(jié)果)

          >無需化學(xué)試劑,無耗材,更環(huán)保,更高效

          EDX9000B Plus能量色散X熒光光譜儀-礦產(chǎn)/礦石分析專家

          ESI英飛思EDX9000B plus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)(勘探、開采、品位控制),工業(yè)礦物,

          生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究,考古EDX9000B plus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍,可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過程控制和質(zhì)量控制。

          具有全新真空光路系統(tǒng)和超高分辨率技術(shù)的新一代Fast SDD檢測器,對輕、中、重元素和常見氧化物(Na2OMgOAl2O?、SiO?、P2O5、SO?、K2O、CaO、TiO?、Cr2O?、MnO、Fe2O?、ZnOSrO等)都可達(dá)到最佳分析效果。

          EDX9000B pluszhuo越的分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試:

          鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

          銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

          鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

          鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

          鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

          鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

          鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

          鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

          鋁土礦

          其它礦類

          產(chǎn)品特點(diǎn)

          1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

          2.可同時分析40種元素

          3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景zhuan利技術(shù)

          4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

          5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計(jì),雙真空抽速機(jī)構(gòu),真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)

          6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件,多任務(wù),多窗口操作

          7.zhuan利薄膜濾光片技術(shù),有效提高輕元素檢出限

          礦產(chǎn)元素檢測專家EDX9000B Plus

          >儀器參數(shù)

          儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

          超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

          半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×75mm

          儀器重量: 48Kg

          元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

          可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

          探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

          探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

          處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器

          譜總通道數(shù):4096

          X光管:高功率50瓦光管(yuan裝進(jìn)口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

          光管窗口材料:鈹窗

          準(zhǔn)直器:多達(dá)8種選擇,最小0.2mm

          濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

          高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

          高壓參數(shù):最小5kv可控調(diào)節(jié),自帶電壓過載保護(hù),輸出精度:0.01%

          樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭

          電壓:220ACV 50/60HZ

          環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C


          儀器配置

          >標(biāo)準(zhǔn)配置

          >可選配置

          Ag初始化標(biāo)樣

          磨樣機(jī)

          真空泵

          壓片機(jī)

          礦石專用樣品杯

          烘干箱

          USB數(shù)據(jù)線

          ESI-900XRF專用全自動熔樣機(jī)

          電源線

          電子秤

          測試薄膜

          礦石標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)

          儀器出廠和標(biāo)定報(bào)告

          交流凈化穩(wěn)壓電源

          保修卡

          150目篩子


          全新設(shè)計(jì)的XTEST分析軟件

          軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法FP),經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(EC,可輕松分析各類樣品。

          *光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量

          *對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的*校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強(qiáng)和吸收。

          *譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖

          *可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。

          *可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的最小二乘擬合進(jìn)行定量分析。

          *基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn),多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

          鋁土礦樣品10次連續(xù)測試穩(wěn)定性報(bào)告

          樣品

          氧化鎂
          MgO

          三氧化二鋁
          Al2O3

          二氧化硅
          SiO2

          氧化鉀
          K2O

          氧化鈣
          CaO

          二氧化鈦
          TiO2

          氧化錳
          MnO

          三氧化二鐵
          Fe2O3

          Sample-1

          0.438

          84.577

          8.754

          0.196

          0.502

          3.753

          0.049

          1.966

          Sample-2

          0.442

          84.853

          8.88

          0.197

          0.522

          3.799

          0.052

          1.962

          Sample-3

          0.424

          84.508

          8.81

          0.197

          0.509

          3.852

          0.051

          1.983

          Sample-4

          0.427

          84.537

          8.636

          0.196

          0.513

          3.777

          0.051

          1.963

          Sample-5

          0.424

          84.501

          8.709

          0.197

          0.503

          3.791

          0.05

          1.973

          Sample-6

          0.415

          84.496

          8.737

          0.2

          0.513

          3.861

          0.051

          2.013

          Sample-7

          0.45

          84.818

          8.917

          0.197

          0.511

          3.854

          0.051

          1.966

          Sample-8

          0.423

          84.577

          8.689

          0.201

          0.501

          3.838

          0.05

          1.971

          Sample-9

          0.447

          84.381

          8.74

          0.199

          0.495

          3.853

          0.05

          1.971

          Sample-10

          0.453

          84.753

          8.893

          0.201

          0.517

          3.793

          0.052

          1.981

          Average        平均值

          0.434

          84.6

          8.776

          0.198

          0.509

          3.817

          0.051

          1.975

          Standard Deviation
          標(biāo)準(zhǔn)偏差

          0.013

          0.155

          0.094

          0.002

          0.008

          0.039

          0.001

          0.015

          RSD
          相對標(biāo)準(zhǔn)偏差

          3.10%

          0.18%

          1.08%

          0.97%

          1.63%

          1.02%

          1.91%

          0.76%


           

           

           

           



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