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          HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

          具體成交價以合同協(xié)議為準
          產(chǎn)品標簽

          測試機測試設(shè)備

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          南京芯測軟件技術(shù)有限公司,專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造,以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務(wù)。公司的目標是成為國內(nèi)晶圓級在片測試,器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進供應(yīng)商,以滿足國內(nèi)用戶需求,開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

          南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)

           

           

           

           

          探針臺,芯片ESD測試設(shè)備,TLP測試設(shè)備,CDM測試設(shè)備

          應(yīng)用領(lǐng)域 化工,電氣,綜合

          ESD(靜電放電)測試是在半導(dǎo)體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導(dǎo)體設(shè)計的開發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備


          TLP

           

          HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC


          TLP 測試機 

          l 用于獲取器件保護電路的相關(guān)參數(shù)特性

          l 為器件升級提供支持,縮短產(chǎn)品周期

          提供普通和VF(非??欤┬吞?。VF模型提供正常(100nm / 200nm)和VF(1nm-)脈沖寬度。

          l   具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產(chǎn)率。

          l   可與HED-W5000,ESD(HBM,MM)測試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出型號(T5000-HC)。

          HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設(shè)備

           

          TLP 測試機 產(chǎn)品系列

          此設(shè)備是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設(shè)備

          對集成電路里保護電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助

          也可進行VF-TLP測試

          產(chǎn)品名/型號 設(shè)備說明 設(shè)備介紹視頻

          HED-T5000/T5000VF
          HED-T5000/
          HED-T5000VF

          此設(shè)備配備了先進的測試模式

          具備印加脈沖寬度為100ns/200ns的normal TLP測試與寬度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)測試模式

          有助于驗證HBM/CDM模式的測試

          對于器件管腳的入射波和器件管腳發(fā)出的反射波,都可在示波器上確認到

          此數(shù)據(jù)會自動保存,并在專用的顯示軟件上表示

          專用顯示軟件可對入射波/反射波的合計值,snapback特性以及漏電流測試的電流值進行圖形描繪

          被保存的示波器上的數(shù)據(jù)可以進行高自由度的演算處理

          比如,對于不同工藝的晶體管的ON電壓及可以加在保護電路上的最大電流值等,可以通過曲線的重疊描繪來確認其差異

          并且可以與半自動探針臺連接,實現(xiàn)TLP測試的自動化

          由于可以在Wafer level上進行印加管腳間或芯片間的自動移位,所以能夠很大地提升測試效率

           

          HED-T5000-HC
          HED-T5000-HC

          目前,對于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加

          對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試,在本設(shè)備上得以實現(xiàn)、并有助于高耐壓元件工作參數(shù)的取得及分析

           

           



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