日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000 I

掃描電子顯微鏡可對(duì)材料的表面進(jìn)行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。FlexSEM 1000主機(jī)寬450mm、長(zhǎng)640mm，相比SU1510型號(hào)體積減小52%，重量減輕45%，功耗減小50%，且配備標(biāo)準(zhǔn)化的電源接口。主機(jī)與供電單元可分離，安裝非常靈活。 近年來(lái)，掃描電鏡觀察表面精細(xì)結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加，而越來(lái)越多的用戶(hù)希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗(yàn)線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此，體積小、操作簡(jiǎn)便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機(jī)寬450mm、長(zhǎng)640mm，相比SU1510型號(hào)體積減小52%，重量減輕45%，

此外，還搭載了的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)直觀的視野移動(dòng)。FlexSEM 1000 II，憑借設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。

• 的用戶(hù)界面，無(wú)論用戶(hù)的熟練程度如何，都可實(shí)現(xiàn)高畫(huà)質(zhì)和高處理能力

• 的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時(shí)的視野搜索和樣品定位

• 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型^*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率

• 憑借*的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測(cè)器、低真空檢測(cè)器（UVD^*2），可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)清晰的畫(huà)質(zhì)

• 大直徑（30毫米²）無(wú)氮EDS檢測(cè)器，可快速進(jìn)行元素分析^*2

*1設(shè)置到桌面上時(shí)，請(qǐng)將機(jī)體與電源盒分離

*2選項(xiàng)