PCI共光路干涉弱吸收儀
- 公司名稱 北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/9/10 9:29:50
- 訪問次數(shù) 1340
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,電子,交通 |
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PCI共光路干涉弱吸收儀測(cè)量原理:
右圖,Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測(cè)樣品上,光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波,從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布,即熱透鏡效應(yīng),當(dāng)一束Probe beam(探測(cè)光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時(shí),探測(cè)光在該焦點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉,并產(chǎn)生周期性相位畸變信號(hào)。探測(cè)器通過探測(cè)其相位畸變情況并由鎖相放大器信號(hào)處理,最后由軟件計(jì)算顯示出待測(cè)樣品的吸收值。
特點(diǎn):
精度高: 1 ppm
一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收
掃描速度快(幾分鐘)
對(duì)樣品規(guī)格要求不高
操作方便、簡(jiǎn)單
應(yīng)用領(lǐng)域:
光學(xué)薄膜
光學(xué)晶體材料
光學(xué)鏡片
PCI共光路干涉弱吸收儀性能:
測(cè)量晶體(LBO、YVO4、KTP…)或光學(xué)產(chǎn)品(K9、BK7、UVFS…)內(nèi)部材料的弱吸收(體吸收)
測(cè)量晶體或光學(xué)產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收
PCI 指標(biāo)說明
波長 | 常規(guī)355、532、1064nm,其它波長可定制 |
靈敏度 | 體吸收:1ppm/cm;面吸收:1ppm |
樣品規(guī)格 | 方形、圓形均可 最小尺寸(mm):3x3x3; 最大尺寸(mm):50x50x50 其它尺寸可定制 |
測(cè)試速度 | 常規(guī)2min/片(相對(duì)6mm厚度) |
區(qū)分體、面吸收 | 一次測(cè)量可以區(qū)分體、面吸收 |
軟件掃描功能 | AbMat-1D: 一維逐點(diǎn)掃描 AbMat-2D: 二維吸收立體掃描 |
掃描方式 | 長度/面/時(shí)間掃描 |
1.光源 | Probe光源 632nmHe-Ne 激光器(imported with original packaging) -最大功率:2mw -功率穩(wěn)定性:<0.1% -發(fā)散角:1.3mrad -偏振比:500:1 Pump光源 #1064nm 光纖激光器 -平均功率: 20W(CW) -光束質(zhì)量M2:<1.5 -功率穩(wěn)定性:<2%(超過5 小時(shí)) -偏振:隨機(jī) -制冷方式:風(fēng)冷 -偏振光系統(tǒng) |
2.探測(cè)部分 | imported with original packaging 含鎖相放大器、光斬波器、探測(cè)器、功率計(jì)、二維調(diào)整架等。 |
3.載物臺(tái)部分 | imported with original packaging 含三維步進(jìn)電機(jī)、樣品支架等 |
4.光學(xué)元件部分 | 反射鏡、透鏡、功率調(diào)節(jié)器等 |
5.軟件部分 | 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集,自動(dòng)保存,數(shù)據(jù)分析等。 一維逐點(diǎn)掃描 二維吸收立體掃描 |
6.其它說明 | 建議設(shè)備安裝在超凈間環(huán)境; 建議配UPS電源。 |
測(cè)量結(jié)果及儀器實(shí)物圖