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          M-Squared Measurement Sys M2測量系統(tǒng)

          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 科藝儀器有限公司
          • 品牌 DataRay/美國
          • 型號 M-Squared Measurement Sys
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
          • 更新時間 2021/9/3 15:02:49
          • 訪問次數(shù) 1291
          產(chǎn)品標(biāo)簽

          光學(xué)測量M2

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          科藝儀器(A &P Instrument),1984年成立于香港,著名的激光、光電產(chǎn)品,教學(xué)儀器及實(shí)驗室通用儀器代理商,是許多歐美在中國的代理,其中包含:博光,Apico,Velodyne,PHOTON ENERGY,Dataray,SLM,Admatec,Directphotonic,Pasco,Cole-Parmer,hrwallingford,F(xiàn)esto,GCC,Jasper,Matrix,Motic,Photron,PALAS,PolyScience,PreSens等。科藝儀器致力于引進(jìn)優(yōu)秀的產(chǎn)品和技術(shù)、提供給客戶完善的服務(wù),幫助客戶解決在科研、生產(chǎn)中遇到的問題,帶動國內(nèi)教育、科研及相關(guān)行業(yè)水平的提高。

          公司產(chǎn)品內(nèi)容涉及以下三個方面:

          1. 各種激光器件及系統(tǒng)、光學(xué)器件及系統(tǒng)、精密移動控制產(chǎn)品及光電測試設(shè)備;

          2. 大學(xué)、中學(xué)各學(xué)科的教學(xué)儀器:普通物理教學(xué)設(shè)備;工程研究及教學(xué)儀器;電工電子,電力;通信,液壓,自動化和機(jī)器人,馬達(dá)控制,空調(diào)與制冷技術(shù);儀表與過程控制,多種培訓(xùn)系統(tǒng)等。

          3. 氣溶膠及顆粒分析監(jiān)測儀及采樣器、實(shí)驗室通用儀器及設(shè)備、工業(yè)在線監(jiān)測儀器、流量計、及食品、環(huán)保監(jiān)測、材料測試儀器和設(shè)備。

          三十多年來,科藝儀器一貫秉持“專業(yè)·品質(zhì)·服務(wù)”的經(jīng)營理念,切實(shí)為國內(nèi)廠家和用戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)和產(chǎn)品解決方案而倍受用戶的信賴。我們以提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和專業(yè)的服務(wù)為宗旨,以專業(yè)高效的員工隊伍為依托,以客戶的滿意為己任。科藝儀器的銷售、技術(shù)服務(wù)網(wǎng)絡(luò)覆蓋全國,輻射東南亞,公司已在北京、上海、廣州、深圳、成都、武漢、中國臺灣、新加坡等地設(shè)有分公司或辦事處,常駐銷售和技術(shù)人員,為客戶提供全面的售前、售中、售后支持和服務(wù)。同時我們?yōu)榭蛻籼峁└皶r、周到及滿意的服務(wù)。

           

           

          光譜儀;激光器;教學(xué)產(chǎn)品;氣溶膠測試儀器;過濾器測試系統(tǒng);蠕動泵;

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 地礦,能源,交通

          M2測量系統(tǒng)

          為什么關(guān)心 M2 

          它是激光器或激光系統(tǒng)的交付質(zhì)量保證或驗收標(biāo)準(zhǔn)。

          ? 您需要了解為什么實(shí)際“聚焦”激光光斑直徑比計算預(yù)測的要大。

          ? 您需要測量 M2,和/或有人給您一份 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)。

          ? 因為 M2 是通過良好光學(xué)系統(tǒng)傳播的激光束的不變屬性。 因此,M2 可用于描述該光學(xué)系統(tǒng)中任意點(diǎn)的光束。 (*光學(xué)系統(tǒng)既不會扭曲也不會縮短光束。)

          m2-measurement-001.jpg

           

          M2 或光束質(zhì)量因子是一個無量綱參數(shù),用于表征實(shí)際激光束的缺陷程度。 M2 的值越低,光束可以越緊密地聚焦到一個小點(diǎn)上。 良好TEM00 光束的 M2 = 1。

          m2-measurement-002.jpg

           

          沒有任何激光束是“wan美的”。 激光腔、激光介質(zhì)和/或輸出/輔助光學(xué)器件的局限性意味著大多數(shù)光束不是教科書中描述的衍射限制、高斯分布、純TEM00 模式。 復(fù)雜光束包含多種增加M2的因素。 即使是理想”的實(shí)驗室氦氖激光器M2大約1.05 到1.2,而不是“wan美”TEM00 光束的1.0。

          簡單M2 可以定義為: 實(shí)際光束的發(fā)散度與具有相同腰部直徑的理論衍射極限光束的發(fā)散度之比。

          M2 = (Θ/θ) 其中 Θ是實(shí)際光束的實(shí)測遠(yuǎn)場全角發(fā)散角,θ是“wan美”TEM00 高斯光束的理論遠(yuǎn)場發(fā)散角,其束腰直徑與被測光束。

          m2-measurement-003.jpg

           

          DataRay 提供成像相機(jī)和狹縫掃描系統(tǒng)來測量M2、發(fā)散度、光束輪廓、光束位置、瑞利范圍等。

          ? BeamR'2 和 WinCamD 輪廓相機(jī)結(jié)合線性平臺移動,通過束腰位置以執(zhí)行符合 ISO 11146 的測量。

          ? BeamMap2 通過多平面掃描系統(tǒng)提供實(shí)時 M2

          移動平臺上符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的單平面測量系統(tǒng)

          m2-measurement-004.jpg


          ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)要求測量光束腰部的多個平面 (≥5) 和遠(yuǎn)場中的多個平面 (≥5) 的二次矩光束直徑。 在大多數(shù)情況下,這需要單個平面光束分析儀通過一個Z平臺沿傳播軸移動。

          DataRay 基于模塊化的系統(tǒng)為用戶提供了 靈活性很強(qiáng)的M2 測量。 電子表格支持選擇最佳 M2 測量配置:基于相機(jī)或基于狹縫掃描的系統(tǒng)、鏡頭選擇50 或 200 毫米長平移臺。

          WinCamD™ 相機(jī)提供最靈活的成像系統(tǒng),可以在脈沖和連續(xù)波束上測量非常廣泛的 M2。 波長從 190 nm 到 1350 nm,傳感器尺寸為 11.3 x 11.3 mm,像素尺寸小至 3.2 µm。

           

          Beam’R2™ 是一種高分辨率 (0.1 µm) 單平面掃描系統(tǒng),具有從 190 nm 到 2.5 µm 的多種波長選項以及用于測量 M2、發(fā)散度、瑞利范圍等的配置選項。

          m2-measurement-005.jpg

           

          m2-measurement-006.jpg

           

          M2DU-50 和 -200平臺

          ? 分辨率 < 1 µm

          ? DataRay 軟件控制

          ? 符合 RoHS 和 CE 標(biāo)準(zhǔn)

          m2-measurement-007.jpg

           

          m2-measurement-008.jpg

           

          實(shí)時 M2

          BeamMap2™ 是一種高分辨率 (0.1 µm) 多 z 平面 XYZθθ 測量系統(tǒng),可實(shí)時測量 M2、校準(zhǔn)、發(fā)散和束腰位置和尺寸。 BeamMap2 有兩個版本,涵蓋狹縫平面分離 d 選項為 50、100、250、500 或 750 µm 的聚焦光束。 ColliMate™ 版本涵蓋接近準(zhǔn)直的光束,平面間距為 5mm。

          BeamMap2 操作原理

          ? 帶有多個 XY 狹縫對的磁盤 ['puck'] 圍繞平行于 z 軸的軸旋轉(zhuǎn),這符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的正交線性掃描要求。

          ? 狹縫在聚焦區(qū)域中以 z 方向的多個平面中精確校準(zhǔn)。

          ? 狹縫放置在與局部徑向方向的 ±45° 處。 有效狹縫寬度比實(shí)際狹縫寬度大 2 倍。

          m2-measurement-009.jpg

           

          m2-measurement-010.jpg

           

          M2測量系統(tǒng)

          波長范圍

          相機(jī)系統(tǒng)

          WinCamD-LCM4

          WinCamD-UCD series

          Beam’R2™

          BeamMap2™

          190-355


          355-1100

          355-1350

          掃描系統(tǒng)

           


          單平面

          模型

          多平面 實(shí)時 M2

          型號1

          190-800

          BR2-Si

          BMS2-Si-XXX

          800-1800

          BR2-IGA

          BMS2-IGA-XXX

          800-2500

          BR2-IGA2.5

          BMS2-IGA-2.5-XXX

          1 不同的狹縫/平面配置可能有多個型號。 請咨詢科藝儀器銷售工程師確認(rèn)選擇范圍:

          訂購信息 鏡頭選擇

          模型

          描述

          LNZ-UV-Focal Length 190-380 nm

          可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

          LNZ-VIS-Focal Length 400-800 nm

          可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

          LNZ-NIR- Focal Length 650-1050 nm

          可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500,750,1000 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

          LNZ-TEL- Focal Length 1050-1620 nm 1

          可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500,750,1000 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

           

          相機(jī)/掃描系統(tǒng)

          模型


          描述

          相機(jī)

          S-WCD-LCM4

          完整的全局 CMOS 光束分析相機(jī)和配件 USB 3.0,1” 傳感器,5.5 µm 像素


          S-WCD-UCD23

          完整的全局 CCD 系列光束分析相機(jī)和配件 USB 2.1、2/3” 傳感器、6.5 µm 像素


          S-WCD-UCD15

          完整的全局 CCD 系列光束分析相機(jī)和配件 USB 2.1、1/1.8” 傳感器、4.4 µm 像素


          S-WCD-UCD12

          完整的全局 CCD 光束分析相機(jī)和附件 USB 2.1、1/2” 傳感器、4.65 µm 像素


          S-WCD-UHR

          完整的 CMOS 光束分析相機(jī)和配件 USB 2.1、1/2” 傳感器、5.2 µm 像素


          S-WCD-XHR

          完整的 CMOS 光束分析相機(jī)和配件 USB 2.1、1/2” 傳感器、3.2 µm 像素

          平臺

          M2DU-WCD-50

          M2 線性平臺,2.5 µm 步長,50 mm 行程,用于相機(jī)


          M2DU-WCD-200

          M2 線性平臺,2.5 µm 步長,200 mm 相機(jī)行程

          狹縫掃描系統(tǒng)

          S-BR2-

          Beam’R2 掃描系統(tǒng) - 選擇 Si、IGA 或 IGA2300


          S-BMS2

          完整的 BeamMap2 系統(tǒng) - 選擇 Si、IGA 或 Ext IGA2300 無需平臺

          Stage

          M2DU-BR2

          用于 BR2 掃描系統(tǒng)的線性平臺

           

          配件

          IC

          儀表盒,包含客戶自定義配置的泡沫單元

          ND 衰減片

          全系列 ND 衰減片,包括我們新的 MagND 衰減片,可快速更換OD數(shù) 0.5、1.0、2.0、3.0、4.0、5.0




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