為什么選擇 X-MET8000 便攜式光譜儀

性能優(yōu)良

X-MET提供的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可隨時提供準確可靠結(jié)果。

通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準確，則使用實證校準。

堅固耐用而擁有成本低

• • 符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供野外使用。

• 通過MIL-STD-810G耐用標準測試。

• 其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標的用戶界面，使用戶幾乎不需要培訓便可開始操作。

符合人體工學

X-MET輕便（包含電池僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而大大降低了疲勞強度。

高級數(shù)據(jù)管理

*靈活：可將多達10萬條結(jié)果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或PC，通過WiFi將X-MET數(shù)據(jù)同步到智能手機或存儲在云服務器。

應用

為預防潛在產(chǎn)品事故及其昂貴的后果，在不同生產(chǎn)階段中進行質(zhì)量控制和質(zhì)量保證至關(guān)重要。通過手持式X射線熒光(HHXRF)，您可以在進料送達時進行快速檢查，并且確認從制造到送貨過程中使用了合格的合金材料。

為何選擇X-MET8000 系列手持式合金分析儀來完成此任務？

X-MET提供：

• 為快速和可靠金屬分析提供實驗室級別的性能

• 為準確的合金牌號鑒定提供多種和可定制的合金牌號數(shù)據(jù)庫

• 堅固耐用而擁有成本低

• 使用方便：用戶幾乎不需培訓

• 多樣化數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲到分析儀、創(chuàng)建測試報告或使用我們手機APP和云服務，隨時隨地管理您的數(shù)據(jù)。

手持式X熒光光譜儀應用于廢舊金屬回收

每年加工的金屬廢料超過4億噸，金屬回收行業(yè)價值達數(shù)十億美元。通過測試對廢舊金屬進行分揀，從將混合廢料分類為低價值和高價值材料，到確定進入熔體的廢料成分和產(chǎn)出質(zhì)量，金屬回收過程中的各個階段都可增加價值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場，為金屬回收過程中的每個階段增添價值。

為什么選擇X-MET8000？

• 通過準確的合金牌號鑒定和元素化學分析（包括分析雜質(zhì)和懲罰元素），較大限度地提高生產(chǎn)力和利潤

• 檢測合金、廢催化轉(zhuǎn)換器和其他材料

• 易于使用：在幾秒后即可開始測試；幾乎無需用戶培訓

• 堅固耐用：IP54評級（密封防塵和防濺水），并通過MIL-STD 810G檢測，堅固耐用

• 擁有成本低：我們的可選防扎窗口在測量轉(zhuǎn)角和其他尖銳物體時保護分析儀的檢測器，避免昂貴的維修

• 強大的數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲在分析儀、U盤，或用我們的手機APP和云服務與同事和買家實時分享結(jié)果

手持式X熒光光譜儀應用于材料可靠性鑒定（PMI）

石油化工企業(yè)以及發(fā)電廠設備故障可能帶來災難性后果。企業(yè)及工廠通過材料可靠性鑒定（PMI）對關(guān)鍵設備投入使用前后進行檢測，能有效降低因故障引發(fā)嚴重事故的風險，預防潛在的災難性事故。通過手持式X熒光光譜儀(HHXRF)，您可以幾秒內(nèi)在現(xiàn)場確認合金的牌號及其元素化學成分。您無需再依賴供應商的認證文件。

為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進行PMI檢查？

• 為快速和可靠金屬分析提供實驗室級性能

• 為準確的合金鑒定提供多種和可定制的等級數(shù)據(jù)庫。

• 牢固耐用而擁有成本低

• 使用方便：幾乎不需用戶培訓

• 以完成任務為主的設計：便于使用的人體工程學優(yōu)化的設計，以便檢測難以到達位置的材料（如彎曲處和角落）

• 多樣化數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲在分析儀、創(chuàng)建自定義測試報告或使用我們的手機APP和云服務，隨時隨地管理您的數(shù)據(jù)。

手持式X熒光光譜儀應用于質(zhì)量保證/質(zhì)量控制（QA/QC）

為避免因產(chǎn)品混料、不達標等問題給企業(yè)帶來的經(jīng)濟和名譽損失，對生產(chǎn)中的各個階段進行質(zhì)量檢驗和質(zhì)量控制變得尤為重要。質(zhì)量保證/質(zhì)量控制（QA/QC）規(guī)程使工廠操作員可測試安裝前后的關(guān)鍵零部件，以確保符合設計要求，并預防潛在的災難性故障。通過手持式X熒光光譜儀(HHXRF)，您可以幾秒內(nèi)在現(xiàn)場確認合金的牌號及其元素化學成分。您無需再依賴供應商的認證文件。

為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進行PMI檢查？

• 為快速和可靠金屬分析提供實驗室級性能

• 為準確的合金鑒定提供多種和可定制的等級數(shù)據(jù)庫。

• 牢固耐用而擁有成本低

• 使用方便：幾乎不需用戶培訓

• 以完成任務為主的設計：便于使用的人體工程學優(yōu)化的設計，以便檢測難以到達位置的材料（如彎曲處和角落）

• 多樣化數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲在分析儀、創(chuàng)建自定義測試報告或使用我們的手機APP和云服務，隨時隨地管理您的數(shù)據(jù)。

手持式X熒光光譜儀應用于貴金屬和珠寶檢測

手持式X射線熒光（HHXRF）分析儀通常被用于檢測珠寶和其他貴金屬物品（如硬幣、銀器），以檢驗真?zhèn)尾⒋_定其價值。貴金屬（如金(Au)和鉑(Pt)）的高價格意味著，成分的微小差別會產(chǎn)生巨大的產(chǎn)品價值差異。 HHXRF具有許多優(yōu)點：快速、無損（對被測物品無劃痕或損壞、不會造成材料損失），并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。

為什么選擇X-MET8000？

• 快速準確：高分析檢測量，使生產(chǎn)力和盈利能力擴大化

• 多用途：分析有價金屬、雜質(zhì)和有毒元素（如鉛和鎘），以確定可能有害的物品

• *便攜：X-MET8000小巧輕便（含電池1.5公斤），可隨時隨地被運輸和使用。輕便攜支架可被放入分析儀的運輸箱內(nèi)

• 易于使用：直觀的用戶界面；幾乎不需要用戶培訓

• 可選的集成攝像頭和小光點準直器：了解您正在檢測的樣品部位

手持式X熒光光譜儀應用于三元催化

在催化轉(zhuǎn)換器中鉑（Pt）、鈀（Pd）和銠（Rh）含量不同和劇烈變動的價格在催化轉(zhuǎn)換器購買和回收中是極為重要的影響因素，意味著成分的微小差別會產(chǎn)生巨大的產(chǎn)品價值差異。手持式X射線熒光（HHXRF）分析儀配置專業(yè)的三元催化校準，排除樣品中所含元素受到的干擾的計算方法，用于測量催化劑組成。HHXRF具有許多優(yōu)點：快速、無損，同時校準曲線具有很強的靈活性，可根據(jù)客戶提供的標準樣品或已知含量樣品進行二次校準，進一步提高分析的準確性。

為什么選擇X-MET8000？

快速準確：高分析檢測量，使生產(chǎn)力和盈利能力擴大化

• *便攜：X-MET8000小巧輕便（含電池僅1.5公斤），可隨時隨地被運輸和使用。輕便攜支架可被放入分析儀的運輸箱內(nèi)

• 易于使用：直觀的用戶界面；幾乎不需要用戶培訓

• 靈活校準曲線，可進行二次校準

手持式X熒光光譜儀應用于合規(guī)性檢測

無論您是電子設備、兒童產(chǎn)品和其他消費品的制造商、零售商或進口商，您都將受到關(guān)于限制有害物質(zhì)(RoHS)以及其他指令（例如2008年CPSIA - 消費者產(chǎn)品安全改進法、包裝指令，WEEE - 電子電氣設備廢棄物、CA 65號等）的影響。這些指令已經(jīng)在不同的地區(qū)被制定，以提高產(chǎn)品的安全性，并通過控制產(chǎn)品的“上游”來源和處理技術(shù)，減少環(huán)境污染物。這一立法影響到全球各個行業(yè)，包括原材料供應商，組件和成品制造商和零售商。

通過X射線熒光(XRF)進行合規(guī)性篩查，提供了被測組件元素化學成分的信息。因其速度快且無損，因此被廣泛使用，且收到標準檢測程序（如IEC 62321方法）的支持。

為什么選擇X-MET8000？

• *便攜：小巧輕便，X-MET可被帶到需要分析的地方（例如生產(chǎn)線、倉庫、碼頭）

• 快速而準確地篩選各種材料（例如聚合物、合金）

• 快速：當場做出接受/拒絕決定

• 易于使用：幾乎不需要用戶培訓

• 可選的小光斑準直器（直徑3毫米）：通過將其與周圍材料隔離，準確檢測小樣品

• 集成攝像頭：清楚看到您檢測的樣品部位

• 強大的數(shù)據(jù)管理：將結(jié)果存儲在分析儀上、將報告導出到U盤，或使用我們的手機APP和云服務實時管理您的數(shù)據(jù)

手持式X熒光光譜儀應用于土壤重金屬檢測

土壤污染由工業(yè)流程（如采礦和制造）、農(nóng)業(yè)（使用肥料和殺蟲劑）或廢物處理（如錯誤地進行垃圾填埋）等人類活動逐漸造成。

暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對人體健康有害，許多國家已經(jīng)制定了相關(guān)法規(guī)和方案，以識別污染區(qū)域并管理修復過程（補救）。

例如，作為美國廢物管理計劃的一部分，美國環(huán)保局引入了6200標準，通過現(xiàn)場便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法，確定土壤和沉積物中的關(guān)鍵元素。

操作者可以使用HHXRF，快速在現(xiàn)場篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠極大減少送到場外實驗室進行分析的樣本數(shù)量，并降低了分析成本和完成測試程序所需的時間。通過孤立問題區(qū)域和在現(xiàn)場確定補救邊界，操作者可較大限度地減少土壤處理和處置成本。

為何選擇X-MET8000  GEO？

• 優(yōu)良的性能：利用我們革命性的BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測器，滿足當今和未來的檢測要求。它們提供了相當于其他HHXRF型號10倍的靈敏度，為測量土壤、污泥和沉積物中關(guān)鍵元素（例如美國EPA 6200方法RCRA和優(yōu)先元素）提供所需的低檢測限制

• 快速分析：快速完成調(diào)查

• 杰出的穩(wěn)定性：無論環(huán)境如何，您都可以信賴結(jié)果。

• 因堅固耐用而降低擁有成本，并使盡力避免因儀器而停工。

• 易于使用：幾乎不需要用戶培訓

• 嵌入式GPS：將地理坐標與測試結(jié)果相結(jié)合，實現(xiàn)站點映射。

• 強大的數(shù)據(jù)管理功能：隨時隨地通過藍牙打印機打印結(jié)果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導出到U盤，或使用我們的手機APP和云服務隨時隨地實時管理結(jié)果

手持式X熒光光譜儀應用于采礦

X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個階段——從早期探索到現(xiàn)場關(guān)閉后的環(huán)境監(jiān)控——提供快速、現(xiàn)場的地球化學分析。這極大減少了對實驗室分析的需求，加快了決策過程并降低了檢測成本。

為什么選擇X-MET8000 GEO？

• 優(yōu)良的性能：我們的革命性BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測器提供相當于其他HHXRF型號10倍的靈敏度，提供測量探路儀或懲罰元件所需的低限探測范圍。

• 快速分析：在幾秒鐘內(nèi)測量多達40個元素；快速完成測試程序。

• 因堅固耐用而降低擁有成本，并使盡力避免因儀器而停工。

• 杰出的穩(wěn)定性：無論環(huán)境如何，您都可以信賴結(jié)果。

• 易于使用：幾乎不需要用戶培訓。

• 內(nèi)置GPS：將地理坐標與測試結(jié)果相結(jié)合，實現(xiàn)站點映射。

• 強大的數(shù)據(jù)管理功能：隨時隨地通過藍牙打印機打印結(jié)果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導出到U盤，或使用我們的手機APP和云服務隨時隨地實時管理結(jié)果。

手持式X熒光光譜儀應用于鍍層測厚

金屬涂層在許多行業(yè)中被使用，并被用于裝飾用途（如鏡面拋光、金色），以增強耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。

為確保所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能，且不會因涂層過厚而浪費材料，電鍍公司需控制其工藝，并檢查最終產(chǎn)品是否符合規(guī)格。

基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測量是一種被廣泛接受和被業(yè)界認可的分析技術(shù)。手持式XRF提供全面的多功能性：您可以將分析儀帶到需要測試的地方。

為什么選擇X-MET8000？

• 操作簡單：X-MET擁有“對準—檢測”的直觀用戶界面；幾乎不需要用戶培訓

• 快速、非破壞性的分析：快速制定流程變更決定；被檢零件無刮痕或其他損壞；不浪費

• 多功能：分析涂層和未涂層零件以及電鍍液

• 檢測笨重和大型項目的理想之選

• 堅固耐用：IP54評級（密封防塵和防濺水），通過MIL-STD 810G檢測，堅固耐用，X-MET為在惡劣環(huán)境使用而設計

手持式X熒光光譜儀應用于考古

手持式X射線熒光(HHXRF)經(jīng)常被用于藝術(shù)和歷史文物的鑒定、保存和修復過程。這是一種非侵入式的技術(shù)，可以在幾秒鐘內(nèi)識別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金，無需采樣或準備測試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處，例如檢測釉中的特定顏料，識別僅在特定時期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過檢查物體表面的元素組成，確定物體的哪一部分被修補，并且可輕松發(fā)現(xiàn)差異。

為什么選擇X-MET8000？

• 優(yōu)良的性能：快速分析和低檢測限制，可靠識別微量元素

• 多用途：對各種材料進行定性和定量分析；使用X-MET的標準校準，或根據(jù)您的具體要求進行創(chuàng)建自定義校準

• 集成攝像頭：將X-MET準確定位在要檢測的物體上

• 可選的小光斑準直器（直徑3毫米）：將小的特征與周圍的材料分隔開，以獲得針點分析精度

• 多種輻射安全配件

型號

X-MET8000 Smart

• X射線管：40kV

• 濾光片：單一

• 檢測器：大面積 SDD

• 最高樣本溫度：400oC

• 符合 IP54 等級

• Thick Kapton®窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞

• 校準：基本參數(shù)法(FP)

• 內(nèi)置攝像頭 （可選）

X-MET8000 Optimum

• X射線管：40kV or 50kV

• 濾光片：六位

• 檢測器：大面積 SDD

• 最高樣本溫度：100oC      或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)

• 符合 IP54 等級

• 可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護

• 校準：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）

• 內(nèi)置攝像頭（可選）

• 小光班準直器（可選）

• 針對所有從鎂到鈾元素進行優(yōu)先分析

X-MET8000 Expert

• X射線管：50kV

• 濾光片：六位

• 檢測器：大面積 SDD

• 最高樣本溫度：100oC      或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)

• 符合 IP54 等級

• 可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護

• 校準方法：自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法（可進行追溯）

• 內(nèi)置攝像頭

• 小光班準直器 （可選)

• 針對所有從鎂到鈾元素進行優(yōu)先分析