bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3
- 公司名稱 上海爾迪儀器科技有限公司
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/11/26 8:25:18
- 訪問次數(shù) 2301
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| 波數(shù)范圍 | 800-3600cm-1 | 分辨率 | <1cm-1 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 20萬-25萬 | 掃描速度 | <3s/光譜秒 |
| 信噪比 | / | 儀器類型 | 實(shí)驗(yàn)室型 |
| 儀器種類 | 激光紅外 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,石油,電子,紡織皮革 |
bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3，是一款基于原子力顯微鏡（AFM）的納米表征工具。其采用光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，提高至10納米級別。為揭示納米尺度下的表界面紅外光譜信息提供了可能。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國R&D100大獎。
下面是bruker布魯克納米紅外光譜nanoIR3的技術(shù)優(yōu)勢：
10nm超高化學(xué)解析分辨率，揭示微區(qū)化學(xué)組分
準(zhǔn)確的微區(qū)化學(xué)表征：基于光熱誘導(dǎo)效應(yīng)PTIR原理，與FTIR光譜*吻合，沒有吸收峰的任何偏移；
超快光譜采集：光譜采集速度：<3s/光譜，光譜分辨率:<1 cm-1；
AFM成像速度一致的快速化學(xué)成像，全自動光路優(yōu)化，避免實(shí)驗(yàn)困惱；
二維可視化光斑追蹤，保證最佳信號；
全自動軟件控制入射光束準(zhǔn)直技術(shù)修正激光的偏移，動態(tài)能量調(diào)整，確保信號的準(zhǔn)確性；
嵌段共聚物P2VP&PS的AFM-IR光譜和紅外成像
超寬中紅外激光，實(shí)現(xiàn)O-H, N-H, C-H等官能團(tuán)的表征
超寬中紅外激光：800-3600 cm-1；
多種光源可選，可集成THz，同步輻射光源，可見光，近紅外，自由電子激光器等；
PS的寬波段納米紅外光譜，與FTIR光譜一致
CH3NH3PbI3的微區(qū)電子吸收成像（13250 cm-1）和AFM-IR光譜
Hyperspectrum全像素三維光譜技術(shù)
超快光譜：~1s/pixel；
AFM任意點(diǎn)的全譜信息；
支持全系列掃描探針顯微鏡模式。
Contact Mode（接觸模式）
Tapping Mode（輕敲模式）
Lateral Force Microscope（橫向力/摩擦力顯微鏡）
Phase Imaging（相位成像）
Magnetic Force Microscopy (磁力顯微鏡)
Electrostatic Force Microscopy (靜電力顯微鏡)
Conductive Atomic Force Microscopy (導(dǎo)電原子力顯微鏡)
Kelvin Probe Force Microscopy (開爾文探針力顯微鏡)
Force Curve Spectroscopy（力曲線）
Liquid Imaging（液態(tài)環(huán)境掃描）
Heater-Cooler Imaging（高低溫環(huán)境掃描）
SThM（掃描熱顯微鏡）
Nano-TA（納米熱分析）
LCR（洛倫茲納米力學(xué)分析）
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