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          產(chǎn)品展廳

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          化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學(xué)儀器及設(shè)備>光學(xué)顯微鏡>激光共聚焦顯微鏡> NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統(tǒng)

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          NS3500 H 大面積高速三維成像掃描系統(tǒng)

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 Nanoscope Systems lnc
          • 品牌 其他品牌
          • 型號(hào)
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 更新時(shí)間 2024/6/5 16:27:19
          • 訪問(wèn)次數(shù) 2294
          產(chǎn)品標(biāo)簽

          激光共聚焦顯微鏡

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          聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


          Nanoscope Systems(納茲克股份有限公司)是一家專門從事共聚焦顯微鏡研發(fā)和生產(chǎn)的韓國(guó)公司,公司坐落于擁有韓國(guó)硅谷之稱的大田廣域市,公司周圍集中了大量高校以及高新技術(shù)企業(yè),與韓國(guó)LG,SK海力士、三星、ANI、 Humen,、KAIST、KBSI、首爾大學(xué)、釜山大學(xué)、NTU、 Southeast University等多家企業(yè)高校合作。憑借先進(jìn)的光學(xué)技術(shù),Nanoscope Systems向工業(yè)領(lǐng)域、低維材料領(lǐng)域、航空航天領(lǐng)域、化學(xué)領(lǐng)域、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域、生命科學(xué)等領(lǐng)域提供了專業(yè)、精密的產(chǎn)品。迄今為止,Nanoscope Systems 已經(jīng)成為韓國(guó)先進(jìn)光學(xué)技術(shù)代表企業(yè)之一。

          自創(chuàng)立以來(lái)Nanoscope Systems專注于提高產(chǎn)品的性能,嚴(yán)謹(jǐn)細(xì)致的工作態(tài)度是我們產(chǎn)品質(zhì)量的保障,自由的管理風(fēng)格構(gòu)成了公司*的文化。憑借優(yōu)質(zhì)的服務(wù)質(zhì)量、高素質(zhì)的銷售團(tuán)隊(duì)以及具有豐富儀器技術(shù)和應(yīng)用知識(shí)的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)和售后團(tuán)隊(duì), Nanoscope System獲得了各大企業(yè)和科研院校的好評(píng)。

          Nanoscope Systems (中國(guó))

          為了更好的適應(yīng)中國(guó)市場(chǎng)發(fā)展的需要,Nanoscope Systems(中國(guó))將總部設(shè)在上海,并在全國(guó)各地設(shè)有測(cè)試中心,而上海巨納科技有限公司作為韓國(guó)Nanoscope Systems 在中國(guó)Exclusive dealer,全權(quán)負(fù)責(zé)Nanoscope Systems 在中國(guó)的全部商務(wù)活動(dòng)。



          “激光共聚焦顯微鏡” “激光熒光共聚焦顯微鏡” “熒光顯微鏡” “拉曼光譜儀”

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
          應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,冶金,航天,汽車 激光 405nm

          NS-3500H 是一種準(zhǔn)確、可靠的三維(3D)掃描系統(tǒng),通過(guò)快速光學(xué)掃描模塊和信號(hào)處理算法實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)共焦顯微圖像。在測(cè)量和檢測(cè)微觀三維結(jié)構(gòu),可以為半導(dǎo)體晶片,F(xiàn)PD產(chǎn)品,MEMS設(shè)備,玻璃基板,材料表面等提供各種解決方案。

          Features & Benefits(性能及優(yōu)勢(shì)):

          • 高分辨無(wú)損傷光學(xué)3D測(cè)量                               自動(dòng)傾斜補(bǔ)償

          • 實(shí)時(shí)共焦成像                                                 簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)分析模式

          • 多種光學(xué)變焦                                                 雙Z掃描

            大范圍拼接                                                    半透明基材的特征檢測(cè)

          • 實(shí)時(shí)CCD明場(chǎng)和共聚焦成像                            無(wú)樣品準(zhǔn)備


          Application field(應(yīng)用領(lǐng)域):

          NS-3500是測(cè)量低維材料的有前途的解決方案。

          可測(cè)量微米和亞微米結(jié)構(gòu)的高度,寬度,角度,面積和體積,例如

          -半導(dǎo)體:IC圖形,凹凸高度,線圈高度,缺陷檢測(cè),CMP工藝

          - FPD產(chǎn)品:觸摸屏屏幕檢測(cè),ITO圖案,LCD柱間距高度

          - MEMS器件:結(jié)構(gòu)三維輪廓,表面粗糙度,MEMS圖形

          -玻璃表面:薄膜太陽(yáng)能電池,太陽(yáng)能電池紋理,激光圖案

          -材料研究:模具表面檢測(cè),粗糙度,裂紋分析

          Dimension(尺寸):

          Specification(規(guī)格):


          ?Model

          Microscope  NS-3500

          備注


                               NS-3500E

          物鏡倍率

          10x

          20x

          50x

          100x

          150x


          觀察/  測(cè)量范圍  

          水平 (H): μm

          1400

          700

          280

          140

          93


          垂直 (V): μm

          1050

          525

          210

          105

          70


          工作范圍: mm

          16.5

          3.1

          0.54

          0.3

          0.2


          數(shù)值孔徑(N.A.)

          0.30

          0.46

          0.80

          0.95

          0.95


          光學(xué)變焦

          x1 to x6


          總放大倍率

          178x to 26700x


          觀察/測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)  

          Pinhole共聚焦光學(xué)系統(tǒng)


          高度測(cè)量

          測(cè)量掃描

          長(zhǎng)掃描 : 10 mm


          顯示分辨率

          0.001 μm


          重復(fù)率 σ

          0.010 μm

          注 1

          寬度測(cè)量

          顯示分辨率

          0.001 μm


          重復(fù)率 3σ

          0.02 μm

          注 2

          幀記憶

          像素

          1024x1024, 1024x768, 1024x384,   1024x192, 1024x96


          單色圖像

          12 bit


          彩色圖像

          8-bit for RGB each


          高度測(cè)量

          16 bit


          幀速率

          表面掃描

          20 Hz to 160 Hz


          線掃描

          ~8 kHz


          自動(dòng)功能

          自動(dòng)增益


          激光共焦測(cè)量光源

          波長(zhǎng)

          405nm


          輸出

          ~2mW


          激光等級(jí)

          Class 3b


          激光接收元件

          PMT (光電倍增管)


          光學(xué)觀察光源

          10W LED


          光學(xué)觀察照相機(jī)

          成像元件

          1/2” 彩色圖像 CCD 傳感器


          記錄分辨率

          640x480


          自動(dòng)調(diào)整

          增益, 快門速度, White balance


          數(shù)據(jù)處理單元

          PC


          電源

          電源電壓

          100 to 240 VAC, 50/60 Hz


          電流消耗

          500 VA max.


          重量

          顯微鏡

          Approx. ~200 kg

          (Measuring head unit : ~12 kg)


          控制器

          ~8 kg


          注1 :以100×/ 0.95物鏡對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品(步長(zhǎng)1μm)進(jìn)行100次測(cè)量                                                                    

          注 2 :以100×/ 0.95物鏡對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品(5μm間距)進(jìn)行100次測(cè)量。





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