化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>燃燒測(cè)定儀>熱傳導(dǎo)性能測(cè)定儀>LaserPIT 日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)x
LaserPIT 日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)x
- 公司名稱 秋山科技(東莞)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) LaserPIT
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/9/9 15:20:04
- 訪問次數(shù) 1479
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日本農(nóng)業(yè)檢測(cè)儀器、日本質(zhì)構(gòu)儀、日本光學(xué)儀器、二手儀器、測(cè)量?jī)x器、檢測(cè)儀器、粉體儀器
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),冶金,制藥 |
日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT
該裝置是通過掃描激光加熱AC法用于諸如薄膜,薄板和薄膜的薄板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量裝置。
在高導(dǎo)熱膜的情況下,也可以測(cè)量亞微米薄膜。
使用
- 高導(dǎo)熱率薄板材料(厚度<500μm)的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱率測(cè)量,例如CVD金剛石和氮化鋁
- 各種金屬薄板材料(厚度> 5μm)的熱擴(kuò)散率/熱導(dǎo)率測(cè)量,例如銅,鎳和不銹鋼
- 低熱導(dǎo)率薄板材料(厚度<500μm)的熱擴(kuò)散率/熱導(dǎo)率測(cè)量,例如玻璃和樹脂材料
- 各向異性高導(dǎo)熱石墨片(厚度<100μm),聚酰亞胺,PET和其他聚合物膜(厚度> 5μm)的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱率測(cè)量
- 測(cè)量在玻璃基板上形成的氮化鋁薄膜,氧化鋁薄膜(厚度為100-300 nm)等(厚度為30μm)的熱導(dǎo)率
- 在玻璃基板(厚度0.03 mm)上形成的DLC薄膜(厚度> 1μm)的熱導(dǎo)率測(cè)量
- 在PET基板上形成的有機(jī)染料薄膜(厚度為100-300 nm)(厚度為0.1 mm)的熱導(dǎo)率測(cè)量
- 評(píng)估各種濺射靶材
特征
- 從金剛石到聚合物的各種鋼板材料的面內(nèi)熱擴(kuò)散率測(cè)量
- 適用于厚度為3至500μm的各種材料,例如自支撐片材,薄膜,電線和纖維
- 可以通過微分法測(cè)量在基板上形成的厚度為100 nm至1000 nm的薄膜的熱導(dǎo)率*僅在室溫下
- 可以通過簡(jiǎn)單的操作進(jìn)行測(cè)量
- 可以通過專yong軟件進(jìn)行控制,測(cè)量和分析
- 主體緊湊地集成了所有光學(xué),控制和測(cè)量系統(tǒng)
日本advance交流光學(xué)法熱擴(kuò)散率測(cè)量?jī)xLaserPIT
規(guī)格
模型 | 激光PIT-R | 激光PIT-M2 |
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溫度范圍 | 逆時(shí)針 | 室溫?200℃ |
交流電 | 激光二極管(685nm,30mW) | |
樣品尺寸 | 自支撐薄板:寬度2.5至5毫米x長(zhǎng)度30毫米x厚度3至500μm 基板上的薄膜:寬度2.5至5毫米x長(zhǎng)度30毫米x厚度100納米至1000納米 | |
測(cè)量周期 | 0.05?10 /秒 | |
測(cè)量氣氛 | 在真空中 |
薄膜的熱導(dǎo)率測(cè)定方法(差值法)
LaserPIT使用玻璃基板來(lái)測(cè)量薄膜的熱導(dǎo)率。通過僅在一個(gè)玻璃基板的一半表面上形成薄膜的方法來(lái)測(cè)量玻璃基板的膜形成區(qū)域和非沉積區(qū)域。根據(jù)“兩個(gè)區(qū)域的測(cè)量結(jié)果”,“玻璃基板的厚度和體積比熱容”以及“薄膜厚度和體積比熱容”來(lái)評(píng)價(jià)薄膜的導(dǎo)熱率。