場發(fā)射掃描電鏡SEM檢測
- 公司名稱 束蘊儀器(上海)有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/9/12 8:36:02
- 訪問次數(shù) 2537
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 場發(fā)射 |
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應用領域 | 環(huán)保,石油,地礦,建材 |
發(fā)射掃描電鏡SEM相關檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說明 |
僅形貌觀察 | 每個樣品*20min,超出時間將按照每20min一個樣計算;樣限取5張照片/樣 | / | / |
僅元素分析測試 | EDS元素分析/分布包括:點分析(限3點);線分析;面分析 | / | / |
形貌觀察和元素分析 | SEM每個樣品限取5張照片; EDS元素分析/分布包括; 點分析(限3點); 線分析;面分析; | / | / |
EBSD | / | / | 制樣收費面議 |
STEM | / | / | / |
冷臺、熱臺、WetSTEM原位觀察 | 需要設計試驗方案,價格面議。 | / | / |
鍍金 | 鍍層為Au 5nm | / | / |
鍍鉑 | 鍍層為Pt 5nm | / | / |
發(fā)射掃描電鏡SEM相關檢測
蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列,采用蔡司Gemini鏡筒,具有高品質的成像和優(yōu)質的分析能力,可選配備多種探測器,以滿足顆粒物、納米結構、薄膜樣品等各種不同的應用需求。EDS幾何設計可實現(xiàn)高性能的元素分析,無論哪種樣品適用范圍廣,且均可獲得準確且可重復的分析結果。
[ 產品特點 ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統(tǒng)4. 可擴展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設計-提升光學性能的同時,降低靜電場與磁場對樣品的影響
日立掃描電鏡
該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件,較重,較高的樣品。
▲樣品直徑達300mm?!捎^察范圍直徑達203mm?!蓪Ω哌_110mm的樣品進行觀察和能譜分析?!ㄓ眯徒涌诓季譂M足各種分析用途。