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          F10-HC Filmetrics 薄膜厚度測量儀

          具體成交價以合同協(xié)議為準

          聯(lián)系方式:岱美儀器查看聯(lián)系方式

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          岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司(Dymek Company Ltd ,下面簡稱岱美)成立于1989年,是一間擁有多年經(jīng)驗的高科技設(shè)備分銷商,主要為數(shù)據(jù)存儲、半導(dǎo)體、光通訊、高校及研發(fā)中心提供各類測量設(shè)備、工序設(shè)備以及相應(yīng)的技術(shù)支持,并與一些重要的客戶建立了長期合作的關(guān)系。自1989年創(chuàng)立至今,岱美的產(chǎn)品以及各類服務(wù)、解決方案廣泛地運用于中國香港,中國大陸(上海、東莞、北京),中國臺灣,泰國,菲律賓,馬來西亞,越南及新加坡等地區(qū)。


          岱美在中國大陸地區(qū)主要銷售或提供技術(shù)支持的產(chǎn)品:

          晶圓鍵合機、納米壓印設(shè)備、紫外光刻機、涂膠顯影機、硅片清洗機、超薄晶圓處理設(shè)備、光學三維輪廓儀、硅穿孔TSV量測、非接觸式光學三坐標測量儀、薄膜厚度檢測儀、主動及被動式防震臺系統(tǒng)、應(yīng)力檢測儀、電容式位移傳感器、定心儀等。


          岱美重要合作伙伴包括有:

          Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,

          n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...


          如有需要,請聯(lián)系我們,了解我們?nèi)绾伍_始與您之間的合作,實現(xiàn)您的企業(yè)或者組織機構(gòu)長期發(fā)展的目標。




          膜厚儀,輪廓儀,EVG鍵合機,EVG光刻機,HERZ隔震臺,Microsense電容式位移傳感器

          產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
          應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合

          Filmetrics 薄膜厚度測量儀 F10-HC

          以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度,加上F10-HC軟件*的先進模擬演算法的設(shè)計,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。

          前所未見的簡易操作界面

          現(xiàn)在,具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用,這個功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁),并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結(jié)果是否有效,并將測量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。

          不需要手動基準校正

          F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準矯正以及設(shè)置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。

          背面反射干擾

          背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學技術(shù)的挑戰(zhàn),具有F10-HC系統(tǒng)的*接觸式探頭能將背面反射干擾的影響小化,使用者能以較高的準確度來測量涂層厚度。

          附 加 特 性

          • 嵌入式在線診斷方式

          • 免費離線分析軟件

          • 精細的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效地存儲,重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

           



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