JSM-IT200 SEM掃描電鏡
- 公司名稱 北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號 JSM-IT200
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/9/23 16:30:27
- 訪問次數(shù) 3477
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日本電子電子顯微鏡,德國Xhuber公司G670系列大型快速高分辨X射線粉末衍射儀,美國ISS公司穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀,德國Hilgers公司Fossil全自動煤巖分析系統(tǒng)
背散射電子圖像分辨率 | 4nm | 二次電子圖象分辨率 | 3.0nm(30kv)、8nm(15kv)、15.0nm(1.0kv)nm |
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放大倍數(shù) | 5-300000x | 加速電壓 | 0.5kv~30kvkV |
價格區(qū)間 | 100萬-150萬 | 儀器種類 | 鎢燈絲 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,電子 |
JSM-IT200 SEM掃描電鏡是一款操作便捷、使用方便,性價比高的全新數(shù)字化鎢燈絲掃描電子顯微鏡,可廣泛的應(yīng)用于各個領(lǐng)域。
立即觀察!立即分析!立即報告!
JEOL InTouchScope™系列*的三個功能使其成為高效的分析工具!
JSM-IT200 SEM掃描電鏡功能特點:
樣品交換導(dǎo)航功能
樣品交換導(dǎo)航是從打開樣品室到開始觀察過程中進行導(dǎo)航的功能
樣品交換導(dǎo)航,可以讓初學(xué)者輕松地從樣品臺光學(xué)圖片上搜索感興趣視野并開始觀察SEM圖像。
立即觀察!Zeromag功能
利用主窗口顯示的樣品臺示意圖和光學(xué)CCD圖像,進行視野搜尋和分析位置。
立即分析!Live Analysis功能
通過實時顯示譜圖和元素,確認(rèn)正在觀察中的SEM視野的主要組成元素。
立即報告!SMILE VIEWTMLab數(shù)據(jù)集中管理功能
對SEM圖像、EDS圖譜等全部數(shù)據(jù)能批量創(chuàng)建報告、批量查看數(shù)據(jù),并且支持?jǐn)?shù)據(jù)重新調(diào)取分析。
JSM-IT200鎢燈絲掃描電鏡參數(shù)性能
- 分辨率:高真空模式 3.0nm(30kV)、8.0nm(15kV)、15nm(1.0kV)
低真空模式 :4.0nm(30kV BED)
- 放大倍率:×5~×300,000 以(128mm×96mm作為規(guī)定顯示尺寸)
- 放大倍率:×14~×839,724 顯示器上的圖像倍率
- 電子槍:一體化預(yù)對中鎢燈絲 *自動電子槍合軸
- 加速電壓:0.5 kV ~ 30 kV
- 探針電流:1pA ~ 0.3μA
- 低真空壓力設(shè)置范圍:10~100Pa
- 物鏡光闌:1 檔,XY 帶有微調(diào)功能
- 自動功能:燈絲調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整、聚焦/像差/亮度/襯度調(diào)整
- 大樣品尺寸:150mm直徑×48mm高度
- 樣品臺:XY 2軸標(biāo)配(全對中式);X:80mm Y:40mm Z:5mm~48mm 傾斜:-10~90° 旋轉(zhuǎn):360°
- 蒙太奇功能:標(biāo)配
- 樣品架示意圖顯示范:127 mmΦ
- 圖像獲取的像素數(shù):320×240;640×480;1,280×960;2,560×1,920;5,120×3,840;
- 顯示器:24英寸觸摸屏
- EDS測量功能:EDS的規(guī)格參照有(兩點間距離、平行線間距、角度、直徑等)
- 數(shù)據(jù)管理功能:SMILE VIEWTM Lab
- 報告書生成功能:輸出到Microsoft®Word
- 語言切換:UI上可使用(日語、英語)
抽真空系統(tǒng):*自動;TMP:1臺;RP:1臺