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          產(chǎn)品展廳

          產(chǎn)品求購企業(yè)資訊會(huì)展

          發(fā)布詢價(jià)單
          努美(北京)科技有限公司

          化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>行業(yè)專用儀器及設(shè)備>其它行業(yè)專用儀器>量子效率測試系統(tǒng)>QE-2000 量子效率測量系統(tǒng)

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          QE-2000 量子效率測量系統(tǒng)

          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
          • 品牌 OTSUKA/日本大冢
          • 型號 QE-2000
          • 產(chǎn)地
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時(shí)間 2020/6/11 16:24:54
          • 訪問次數(shù) 1447

          聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


                大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)·檢查。

            以高速·高精度·高可靠性且有市場實(shí)際應(yīng)用的分光器MCPD系列為基礎(chǔ), 在中國的顯示器 市場上有著20年以上銷售實(shí)例, 為許多廠家在研究開發(fā)、生產(chǎn)部門所使用。并且在光源·照明 相關(guān)方面,對研究機(jī)構(gòu)、各個(gè)廠家的銷售量在逐步擴(kuò)大。

            在中國的蘇州有設(shè)立售后服務(wù)點(diǎn),為了能迅速且周到的為顧客服務(wù)而努力。

            我公司的母公司日本大塚電子集團(tuán),隸屬于大冢集團(tuán), 一直以來都謹(jǐn)守大冢集團(tuán) 的企業(yè)理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創(chuàng)造革新的產(chǎn)品),不斷的推出創(chuàng)新產(chǎn)品,面向開展業(yè)務(wù),為社會(huì)作出貢獻(xiàn)。

           

          zeta電位?粒徑?分子量測量系統(tǒng),晶圓在線測厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測系統(tǒng),量子效率測量系統(tǒng)

          測量模式 直流 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
          價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣

          量子效率測量系統(tǒng) QE-2000/2100

          <strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>量子效率測量系統(tǒng)</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong> QE-2000/2100

          量子效率測量系統(tǒng)可瞬間測量量子效率(量子收率)。適用于粉體、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量。通過低迷光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區(qū)域的迷光。另,采用了積分半球unit,實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系的同時(shí),運(yùn)用其再激勵(lì)熒光補(bǔ)正的優(yōu)點(diǎn),可進(jìn)行高精度的測量。另,QE-2100對應(yīng)范圍廣,從量子效率的溫度依賴性測量或紫外~近紅的的波長范圍。

          產(chǎn)品信息

          特 點(diǎn)

          1)測量精度高

          • 可瞬間測量量子效率(量子收率)
          • 可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光
          • 采用了積分半球unit,實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系
          • 采用了低迷光多通道分光檢出器,大大減少了紫外區(qū)域的迷光

          2)操作簡單

          • 專業(yè)軟件,操作簡單
          • 輕松裝卸樣品測量用cell
          • 小型設(shè)計(jì),省空間
          • 利用分光器型的激勵(lì)光源,可選擇任意波長
          • 可在軟件激勵(lì)波長的波長及step的值,進(jìn)行自動(dòng)測量

          3)功能多

          • 可用于粉體、溶液、固體(膜)、薄膜樣品的測量
          • 豐富的解析功能

          4)測量項(xiàng)目

          • 量子効率(量子收率)測量
          • 激勵(lì)波長依賴性測量
          • 發(fā)光光譜測量
          • PL激勵(lì)光譜測量
          • EEM(Excitation Emission Matrix)測量

          5)用 途

          • LED、有機(jī)EL用熒光體的量子効率(量子收率)測量
          • 膜狀樣品的透過熒光?反射熒光的量子効率(量子收率)測量
          • 非接觸式熒光粉用熒光體樣品等
          • 量子Dot、熒光探頭、生體領(lǐng)域、包接化合物等的熒光測量
          • 色素敏化型太陽電池的量子効率(量子收率)測量
          • 絡(luò)化物化合物的測量

          精度高的理由

          1.積分半球的理想的光學(xué)系

          QE-2000搭載了積分半球。積分半球與積分球()相比,有以下特點(diǎn)
          • 可將非發(fā)光部分(手柄等)隔離在外部,有效控制了自我吸收,實(shí)現(xiàn)了理想的光學(xué)系。
          • 通過鏡子可將同一測量點(diǎn)的發(fā)光強(qiáng)度增加約2倍,測量的感光度好
          • 輕松裝卸樣品測量用cell、劃傷積分球內(nèi)部的風(fēng)險(xiǎn)小

          2.根據(jù)再激勵(lì)熒光補(bǔ)正功能,觀察”真正德物性值”

          包括再激勵(lì)熒光發(fā)光狀態(tài)下,不僅不能觀察材料本身的物性,也不能觀測到包含裝置的特性,無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵(lì)熒光補(bǔ)正的特點(diǎn),可簡單的測量出真正的物性值,且精度高。

          QE-2000_05.jpg

           

           

           

           

           

          3.通過低迷光多通道分光檢出器,降低紫外區(qū)域的迷光

          以往的檢出器(多色儀),因檢測出的紫外區(qū)域的迷光很高,可以說不適合量子効率(量子收率)的測量。大塚電子開發(fā)出了去除迷光的技術(shù),這個(gè)問題也得以解決。搭載在QE-2000上的多通道分光檢出器,與本公司以往的產(chǎn)品相比,迷光量約1/5,即使在紫外區(qū)域,測量的精度也非常高。

          規(guī)格式樣

           

          降低雜散光的多通道分光光譜儀

          波長范圍

          250nm ~ 800nm (視光譜儀規(guī)格)

          光譜儀分光元件

          全息成像光柵 F=3 f=135 mm

          波長精度

          ±0.3 nm

          感光元件

          電子冷卻型CCD影像感測器

          感光元件解析能力

          1.2nm / pixel

          受光光纖

          石英制光纖、外層技術(shù)包覆、固定口徑φ12 mm

           

          激發(fā)光源系統(tǒng)

          激發(fā)光源套件

          150W Xe燈 + 分光光柵

          激發(fā)波長范圍

          250nm ~ 700nm

          波長掃描方式

          Sine Bar正弦桿方式

           

          其它

          積分半球設(shè)備
          (HalfMoon)

          φ150 mm

           

          電源

          功率

          700VA

          AC輸入

          100V ±10% 50 / 60Hz

          Option
          • 自動(dòng)取樣器
          • 樣品支架
          ①粉體測量用 SUS304制、有石英蓋子
          ②膜測量用 透過測量用樣品支架

          軟件

          直觀明了、使用方便的專業(yè)軟件。組裝好樣品測量用cell便可輕松測量量子効率(量子收率)、激勵(lì)光譜等。

          測量例

          1)粉體樣品的測量

          BAM的復(fù)數(shù)激勵(lì)的測量例

          激勵(lì)波長變化,量子効率(量子收率)也會(huì)隨之變化。下圖中顯示的時(shí)BAM(粉體)的量子効率(量子收率)及反射率的激勵(lì)波長依賴性。(BAM=BaMgAl10O17:Eu) ● 藍(lán)色(左邊的scale):再激勵(lì)補(bǔ)正后的內(nèi)部量子効率(內(nèi)部量子收率) ■ 紅色(右邊的scale):各激勵(lì)波長中的反射率根據(jù)此圖,如是BAM的情況時(shí),激勵(lì)光越接近可視區(qū)域,收率越低。也就是反射率變大。

          2)溶液樣品的測量

          熒光素的激勵(lì)光譜測量

          激勵(lì)光譜表示的是在哪段激勵(lì)波長中,熒光強(qiáng)度是大的光譜。右圖,表示的是熒光素的激勵(lì)光譜(藍(lán)色)和熒光強(qiáng)度大的激勵(lì)波長(493nm)時(shí)的熒光光譜(綠色)。

          熒光素的內(nèi)部量子効率(內(nèi)部量子收率)測量

          激勵(lì)波長493nm中的熒光素溶液的熒光光譜(含激勵(lì)光)如右圖所示。內(nèi)部量子効率(內(nèi)部量子收率)可得出和0.903(濃度6.43 x 10-6mol/L)、文獻(xiàn)值0.921)同等的值。 1) G. Weber and F. W. J. Teale, Trans Faraday Soc 53, 646(1957)

          量子Dot的內(nèi)部量子効率(內(nèi)部量子收率)測量

          量子Dot通過改變組成和內(nèi)部構(gòu)造,調(diào)整光學(xué)的特性的材料而被關(guān)注。量子Dot的激勵(lì)光譜和、激勵(lì)波長370nm時(shí)的熒光光譜見下圖。

           

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