OmniScan MX ECA/ECT 渦流陣列
- 公司名稱 北京新興日祥科技發(fā)展有限公司
- 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
- 型號(hào) OmniScan MX ECA/ECT
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/1/5 11:54:57
- 訪問次數(shù) 1273
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 石油,能源,電子,交通,航天 |
奧林巴斯OmniScan MX ECA/ECT渦流陣列技術(shù)
渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動(dòng)同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號(hào)。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù),可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan®ECA檢測(cè)配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈(使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè))。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢(shì)
同單通道渦流技術(shù)相比,渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì):
●檢測(cè)時(shí)間大幅度降低。
●單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域。
●減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
●提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。
●很好地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè)。
●改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率(POD)。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech®ECA探頭可適用于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測(cè)工件的形狀,可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測(cè)如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。
渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。
探頭可以做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應(yīng)檢測(cè)部件的外形。
用于腐蝕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米(0.25英寸)的深度。
用于表面裂痕檢測(cè)的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼。
用于表面裂痕檢測(cè)的式探頭。
簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
●C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集,可快速有效地檢測(cè)缺陷。
●分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號(hào)。
●波幅、相位和位置測(cè)量。
●可調(diào)彩色調(diào)色板。
●大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規(guī)單通道ECT探頭檢測(cè)相適應(yīng)。
校準(zhǔn)向?qū)?/span>
●分步進(jìn)行。
●一組中的所有通道可被同時(shí)校準(zhǔn),每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。
●波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。
報(bào)警
●3個(gè)報(bào)警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
●可以在阻抗圖中定義不同的報(bào)警區(qū)形狀(扇形、長(zhǎng)方形、環(huán)形等)。
自動(dòng)探頭識(shí)別和配置
●探頭被連接后,C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動(dòng)設(shè)置。
●頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。
高級(jí)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理
●實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。
●使用兩個(gè)頻率,可生成一個(gè)MIX信號(hào),以去除干擾信號(hào)(如:提離、緊固件信號(hào)等)。
●數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例:在搭接處邊緣檢測(cè)出裂紋,因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測(cè)效果,特別是對(duì)小裂紋而言。