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D-TECT D-TECT 圖像處理系統(tǒng)
- 公司名稱(chēng) 上海玖橫儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) D-TECT
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/7/7 16:44:06
- 訪問(wèn)次數(shù) 956
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測(cè)厚儀,超聲波探傷儀,渦流探傷儀,相控陣探傷儀,DR平板探測(cè)器,磁通滲透,磁通磁軛,電磁超聲測(cè)厚儀,點(diǎn)焊分析儀
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè) |
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D-TECT 圖像處理系統(tǒng)在厚度差異較大及復(fù)雜的鑄件,能夠在一次的曝光后,通過(guò)軟件的處理,清楚分辨出缺陷分別在較薄及較厚的位置,能節(jié)省多次曝光的時(shí)間。
D-TECT 圖像處理系統(tǒng)
直方圖均值化
在直方圖里灰度值的均值化可同時(shí)對(duì)不同密度材料進(jìn)行光學(xué)評(píng)估。
高對(duì)比度濾波器
濾波器允許優(yōu)化圖像對(duì)比率。
原始數(shù)據(jù)會(huì)無(wú)變化的保留。
精細(xì)結(jié)構(gòu)濾波器
精細(xì)結(jié)構(gòu)濾波器對(duì)焊縫檢測(cè)十分有利。小的缺陷容易被放大,對(duì)比變成優(yōu)化。原始圖像數(shù)據(jù)被保存。
手動(dòng)測(cè)量
內(nèi)部雜質(zhì)或裂紋的尺寸可通過(guò)使用手動(dòng)工具確定。
自動(dòng)壁厚測(cè)量
由于可使用任意選擇的測(cè)量工具測(cè)量壁厚,確定壁厚就變得非常簡(jiǎn)單和快速。
不管是手動(dòng)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的輸入還是曝光參數(shù)已經(jīng)記錄,測(cè)量工具都能兼顧到,都可作為X射線照相技術(shù)的要求。
上海玖橫儀器有限公司是一家專(zhuān)業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀:(EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀,新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀);超聲波測(cè)厚儀:(27MG超聲波測(cè)厚儀、45MG超聲波測(cè)厚儀、38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀、DM5E超聲波測(cè)厚儀、CL5超聲波測(cè)厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀,ETG-100電磁高溫測(cè)厚儀);超聲波探頭;定制相控陣探頭;渦流探傷儀:(NORTEC 600渦流探傷儀);硬度計(jì);DR平板探測(cè)器:1313DX ,1515DXT-I ,2520DX ,2530HE,4343HE, Dexela 1207 ,Dexela 1313 ,Dexela 2121S ,Dexela CMOS平板探測(cè)器 ,XRD 0822 ,XRD 1611 ,XRD 1621 ,XRD 4343RF ,XRD 3025 ,XRpad 4336 ,XRpad 4343 F ,XRpad2 3025 ,XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡:(IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專(zhuān)業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、);脈沖發(fā)生器:(DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR);合金分析儀:(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表