WT2000 紅外探傷儀少子壽命儀伺服系統(tǒng)等檢測(cè)備件
- 公司名稱 北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) WT2000
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2019/10/24 16:06:28
- 訪問(wèn)次數(shù) 358
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| 供貨周期 | 現(xiàn)貨 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子 |
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■少子壽命儀 WT-2000設(shè)備升級(jí)改造 微波JMB103-O JMB103-0 皮帶定制 滑塊定制THK 主板 CONEC Z1118 光纖THOR TS1258778 移動(dòng)電機(jī)（242238）A-MAX32+HEDS5540
■紅外探傷儀 紅外光源INFRALIGHT 811 451 紅外相機(jī) IRB50 IRB-55 板卡IAB1095703
■電阻率測(cè)試儀 探頭KPT FT-201 202 探針23.5*0.5 16*0.5mm
■EL、PL測(cè)試儀
■橢偏儀
■ 伺服系統(tǒng) FANUC802S 802C 松下 西門子 三菱
■解決出質(zhì)保期的高額維修服務(wù)費(fèi)和配件費(fèi)用高的問(wèn)題。
■解決您維修周期長(zhǎng)，耽誤生產(chǎn)的問(wèn)題
HS-MWR-SIM無(wú)接觸少子壽命測(cè)試儀是一款功能強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命測(cè)試儀，能夠?qū)尉?/span>硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷單點(diǎn)少子壽命測(cè)試，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到20ms,電阻率量程為>0.1Ω.cm,,是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)*的測(cè)量?jī)x器。
產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量
■ 可移動(dòng)掃描頭，便于測(cè)量
■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量
■ 主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過(guò)程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高，*程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本
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