蔡司電子斷層掃描METROTOM測量蔡司ct測量機(jī)可以精確地測出零件表面的點(diǎn)在空間里三個坐標(biāo)位置的數(shù)值，經(jīng)處理擬合形成測量元素，如圓、球、圓柱、圓錐、曲面等，終計(jì)算得出其形狀、位置公差及其他幾何量數(shù)據(jù)。

蔡司電子斷層掃描METROTOM測量但是要知道，蔡司ct測量機(jī)這個過程當(dāng)中不免會出現(xiàn)很多復(fù)雜的問題，比如傳統(tǒng)上倒扣等復(fù)雜或微細(xì)三維結(jié)構(gòu)難以直接量測；

蔡司電子斷層掃描METROTOM測量全尺寸測量耗時數(shù)天乃至數(shù)周；剖切、測量力及裝夾所導(dǎo)致的樣品微變形量測失準(zhǔn)；夾具檢具成本的大幅攀升……

蔡司電子斷層掃描METROTOM測量該設(shè)備是配備了CT傳感器的坐標(biāo)蔡司ct測量機(jī)，采用高精度坐標(biāo)測量機(jī)核心運(yùn)動及測量部件，將X射線裝置融合于坐標(biāo)測量系統(tǒng)中，除常規(guī)工業(yè)CT的無損分析功能，增加了可追溯的幾何量計(jì)量能力。

蔡司電子斷層掃描METROTOM測量測量系統(tǒng)的長度測量精度、探測精度、空間分辨率及相關(guān)軟件評定算法應(yīng)符合相應(yīng)產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)或國家標(biāo)準(zhǔn)。

蔡司電子斷層掃描METROTOM測量但是你有所不知的是，現(xiàn)在CT技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)不再*于醫(yī)療領(lǐng)域。在工業(yè)上，越來越多的零部件需要對其內(nèi)部進(jìn)行精確的分析，蔡司ct測量機(jī)這同樣需要用到CT技術(shù)——能夠一眼看穿“工件”的無損檢測技術(shù)。

蔡司電子斷層掃描METROTOM測量可直接比對zeiss蔡司CT 三維體元數(shù)據(jù)和CAD 或其它CT 三維體元數(shù)據(jù)，較之常規(guī)方法效率更高，并可以顏色標(biāo)識來顯示分析結(jié)果，可對整體對象或用戶的“感興趣區(qū)域”進(jìn)行分析，數(shù)模對比可直接在zeiss蔡司CT 三維體元數(shù)據(jù)上進(jìn)行。

蔡司電子斷層掃描METROTOM測量無需將三維數(shù)據(jù)間接轉(zhuǎn)換成點(diǎn)云或STL 數(shù)據(jù)，從而避免了增加間接測量的不確定性及有效信息的丟失。