WK3255B 穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 KEYSIGHT/美國(guó)是德
- 型號(hào) WK3255B
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/19 10:18:45
- 訪問(wèn)次數(shù) 1932
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總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀,靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀,源表,干燥箱烘箱,高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱,LCR阻抗分析儀,示波器,頻譜儀,耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,由原安捷倫Agilent技術(shù)工程師——堅(jiān)JET和泰克Tektronix用戶工程師——融YOO于2011年共同創(chuàng)立,志在破舊立新!*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售,不專業(yè)做售前測(cè)試方案,不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn),專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀特點(diǎn)
頻率范圍 20Hz - 200kHz(3255BL)
頻率范圍 20Hz - 500kHz(3255B)
頻率范圍 20Hz - 1MHz(3255BQ)
0.1% 基本量測(cè)精確度
DC Bias(直流偏壓) 高可到125A(Option)
可內(nèi)建1Amp或2Amp DC Bias
多頻率自動(dòng)測(cè)試模式
多點(diǎn)DC Bias掃頻功能
涵蓋各式測(cè)量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質(zhì)因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
人性化直覺(jué)式操作介面,簡(jiǎn)單易懂
測(cè)試結(jié)果列印
可透過(guò)IEEE488連線控制
在線圈產(chǎn)品的檢測(cè)領(lǐng)域中,Wayne Kerr 一直是,各地也**WK產(chǎn)品的精準(zhǔn)度、功能性及其優(yōu)良的*,3255B電感分析儀亦承襲了以上所有優(yōu)勢(shì)。
運(yùn)用新科技,結(jié)合所需的量測(cè)功能,3255B不但是一臺(tái)有高精準(zhǔn)度、高效率且多功能的產(chǎn)品,它優(yōu)惠的價(jià)格所提供的成本效益,更是市場(chǎng)上其他產(chǎn)品所*。
使用電源230 V AC ±10% ,115 V AC ±10%
頻率50/60 Hz
耗電量150VA
顯示幕高亮度 LCD
試接點(diǎn)BNC 接頭 X 4
測(cè)試線4線式(Kelvin)
穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀參數(shù)指標(biāo)
量測(cè)參數(shù)L, Z, Rdc, C, Q, D, Rac and Angle
頻率范圍20 Hz to 200kHz/ 3255BL ,500 kHz/3255B ,1MHz/3255BQ
量測(cè)電壓/電流1 mV to 10 V 50 mA to 200 mA
直流偏壓1 mA to 1 A
量測(cè)速度4 (20/sec. Max)
量測(cè)范圍
R 0.01 mOhms - > 2GOhms
L 0.01 nH - > 100 H
C 5 fF - > 1 F
基本量測(cè)速度
L/Rac/Z/Cp ±0.25%
Q ±0.25 (Q+1/Q)%
D ±0025 (1+ D2)
Turns ratio ±0.25%
Rdc ±0.5%
穩(wěn)科waynekerr磁性元件分析儀WK3260
頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
0.1% 基本量測(cè)精確度
DC Bias(直流偏壓) 高可到125A(Option)
內(nèi)建1Amp DC Bias
多頻率自動(dòng)測(cè)試模式
多點(diǎn)DC Bias掃頻功能
可直接畫(huà)出加上Bias時(shí)各參數(shù)之曲線圖.具掃頻功能
可接Mesco view, Factory view軟件
涵蓋各式測(cè)量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(質(zhì)量因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
可透過(guò)IEEE488連線控制
量測(cè)參數(shù)L,Z,Rdc,C,Q,D,Rac,Angle
頻率范圍20 Hz to 3 MHz Option
頻率波段>1000
量測(cè)電壓/電流1 mV to 10 V ,50 uA to 200 mA
內(nèi)建式直流偏壓電流1 mA to 1 A
絕緣測(cè)試(選購(gòu))100 V, 200 V, 500 V
量測(cè)速度4 off (25/sec max)
量測(cè)范圍
R 0.01 mOhm to > 2 GOhms
L 0.1 nH to >1000H
C 5 fF to > 1 F
基本量測(cè)速度
L/Rac/Z/Cp ±0.25%
Q ±0.25 (Q+1/Q)%
D ±.0025 (1+ D2)
Turns ratio ±0.25%
Rdc ±0.5%