EXFO WA-1150 光波長計
- 公司名稱 深圳市晧辰電子科技有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/3/13 14:29:55
- 訪問次數(shù) 736
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子 |
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WA-1150波長計光波長計提供zui高精度的波長測量,同步功率測量,專為在制造環(huán)境中表征WDM組件而設計。
這些系統(tǒng)采用Burleigh經(jīng)過驗證的掃描邁克爾遜干涉儀波長計技術,通過比較其干涉條紋圖案與內置HeNe激光波長標準的干涉條紋圖案來確定測試激光的波長。與其他波長計不同,所有可能影響波長測量的因素都考慮在內,以便使用WA-1150實現(xiàn)±1 ppm的zui高波長精度。
為了提供更完整的WDM組件分析,這些Wavemeter同時測量光輸入信號的總功率。此外,漂移功能可根據(jù)時間自動監(jiān)控波長或功率的任何變化。顯示當前值及其與測量起始點的偏差,以提供測試激光的實時狀態(tài)。還報告了大值和小值,以給出測量期間達到的極限。
在這些系統(tǒng)中已經(jīng)結合了幾種針對WDM組件制造商需求的設計考慮因素。通過內置的HeNe激光波長標準,系統(tǒng)的精度可以長時間保持,無需校準。測量周期時間短至0.1秒,提高了波長表征的效率。堅固耐用的臺式或機架式封裝可大限度地減少典型制造環(huán)境中的任何不利影響。