半導體材料高低溫試驗箱
- 公司名稱 東莞市柳沁檢測儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/11/6 21:10:39
- 訪問次數(shù) 1435
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高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、紫外線老化試驗箱、氙燈老化試驗箱、快速升降溫試驗箱、淋雨試驗箱、砂塵試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高溫老化房、真空及無塵干燥試驗箱、鹽水噴霧試驗箱、跌落試驗機、電磁振動臺等各類環(huán)境儀器和力學試驗設(shè)備。
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 2萬-5萬 |
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半導體材料高低溫試驗箱是一款用于半導體材料做高溫、低溫、高低溫交變的可靠性試驗設(shè)備。經(jīng)過測試從而知道因溫度引起的物理效應(yīng)和現(xiàn)象。半導體材料(semiconductor material)是一類具有半導體性能(導電能力介于導體與絕緣體之間,電阻率約在1mΩ·cm~1GΩ·cm范圍內(nèi))、可用來制作半導體器件和集成電路的電子材料。
符合標準
具有較寬的溫度調(diào)節(jié)控制范圍,可滿足國家標準本產(chǎn)品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等國家標準《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》A:低溫試驗方法,試驗B:高溫試驗方法,試驗Ca:恒定濕熱試驗方法,試驗Db:交變濕熱試驗方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96國家標準制造件,并可按軍標試驗要求GJB150.3-86,GJB150.4-86,及非標準制作各種半導體材料高低溫試驗設(shè)備。并等效滿足GJB150.9-86等相應(yīng)的國標、軍標;也可按客戶的要求制造非標準產(chǎn)品。
規(guī)格可選其一(單位:mm)
型號 LQ-GD-100 內(nèi)型尺寸 400×500×500 外型尺寸950×880×1470
型號 LQ-GD-150 內(nèi)型尺寸 500×500×600 外型尺寸985×932×1562
型號 LQ-GD-250 內(nèi)型尺寸 520×630×780 外型尺寸1060×997×1740
型號 LQ-GD-500 內(nèi)型尺寸 700×800×900 外型尺寸1182×1250×1880
型號 LQ-GD-800 內(nèi)型尺寸 800×1000×1000 外形尺寸 1360×1500×1950
型號LQ-GD-1000 內(nèi)型尺寸1000×1000×1000 外型尺寸1485×1520×2020
溫度范圍可選其一:0℃~150℃;-20℃~150℃;-40℃~150℃;-60℃~150℃;-70℃~150℃
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我司主打設(shè)備:高低溫試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、紫外老化試驗箱、氙燈老化試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、砂塵試驗箱、淋雨試驗箱、拉力試驗機、鹽水噴霧試驗箱、按鍵壽命老化試驗機、高溫試驗箱、電磁振動試驗臺、模擬運輸振動試驗臺、跌落試驗機等可靠性環(huán)境試驗設(shè)備。