pw-800 手動點針工作站失效分析電性測試探針臺

參考價	￥ 670000
訂貨量	≥1

具體成交價以合同協(xié)議為準

公司名稱 儀準科技（北京）有限公司
品牌
型號 pw-800
產(chǎn)地 中國臺灣
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2018/5/4 10:23:17
訪問次數(shù) 1030

產(chǎn)品標簽

手動點針工作站失效分析電性測試探針臺集成電路失效分析元器件特性量測

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公司介紹 主營產(chǎn)品

儀準科技（北京）有限公司是一家專業(yè)提供集成電路失效分析及可靠行測試的服務(wù)商

主要服務(wù)項目：半導(dǎo)體失效分析設(shè)備，元器件失效分析可靠性測試

	非破壞性分析
	小型測試機 / 半導(dǎo)體I-V特性曲線儀 / 探針臺 / 顯微鏡觀察分析 / 3D X-Ray / 超聲波掃描顯微鏡 /

	破壞性分析
	激光開封 / 手動開封 / 酸自動開封機 / 小型半導(dǎo)體器件銑床 / 微光分析儀 / 光致電分析儀 / 研磨拋光 / 探針臺 / 掃描電子顯微鏡/能譜分析 /

	化學(xué)處理
	取晶 / 反應(yīng)離子刻蝕機 / 碼點染色 / 顯微照相 / 電子掃描顯微鏡/能譜分析 /

	聚焦離子束
	微線路修改 / 測試鍵生長 / 縱向微切片解剖 / 微區(qū)刻蝕 /

	可靠性服務(wù)
	預(yù)處理 / 冷熱沖擊(TC) / 高壓蒸煮加速實驗(HAST) / HTRB / 老化實驗(Burn in) / 高壓高濕實驗(SPP) /

	靜電測試(ESD/HBM/MM)
	CDM / Latch up / HBM / MM /

	可焊性測試
	沾濕天平(Wet Balance) / 錫須實驗(Whisker) /

	研磨/拋光等耗材銷售
	Allied / ProbeTips /

展開

探針臺probe，開封機laser decap，紅外顯微鏡，微光顯微鏡EMMI，IV自動曲線量測儀

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手動點針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域探針臺

        應(yīng)用領(lǐng)域
●Failure analysis 集成電路失效分析
●Wafer level reliability晶元可靠性認證
●Device characterization 元器件特性量測
●Process modeling塑性過程測試(材料特性分析)
●IC Process monitoring 制成監(jiān)控
●Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試
●Flat panel probing 液晶面板的特性測試
●PC board probing PC主板的電性測試
●ESD&TDR testing    ESD和TDR測試
●Microwave probing 微波量測(高頻)
●Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析
●LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析

手動點針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域

型號： PW-400
規(guī)格：
chuck尺寸100mm
X,Y移動行程100mm
chuck Z軸方向升降10mm（選項）
搭配AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)2～4顆
適用領(lǐng)域：4寸Wafer，如晶圓廠、LED、學(xué)術(shù)單位等

手動點針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域

型號： PW-600/PW-800

規(guī)格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y電動移動行程150mm（200mm）
chuck粗調(diào)升降8mm，微調(diào)升降25mm
可搭配MOTIC金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡
針座擺放個數(shù)6～8顆
顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“
可搭配Probe card測試
適用領(lǐng)域：6寸/8寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品
手動點針工作站失效分析電性測試探針臺半導(dǎo)體領(lǐng)域
RF高頻探針臺