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          產(chǎn)品展廳

          產(chǎn)品求購企業(yè)資訊會(huì)展

          發(fā)布詢價(jià)單
          飛馳(北京)科學(xué)儀器有限公司

          化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>粒度儀>激光粒度儀>YED5100-H 激光粒度儀-激光顆粒度分析儀

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          YED5100-H 激光粒度儀-激光顆粒度分析儀

          參考價(jià) 14
          訂貨量 ≥1
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 廈門億恩達(dá)科技有限公司-J
          • 品牌
          • 型號(hào) YED5100-H
          • 產(chǎn)地 廈門
          • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
          • 更新時(shí)間 2018/1/23 14:19:19
          • 訪問次數(shù) 391
          產(chǎn)品標(biāo)簽

          激光粒度儀激光粒度分析儀

          聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


          廈門億恩達(dá)電子科技有限公司的總部位于廈門湖里*園, 是一家集生產(chǎn)、研發(fā)、銷售、服務(wù)于一體的儀器設(shè)備供應(yīng)商,是提供實(shí)驗(yàn)室分析儀器、無損檢測儀器和檢測技術(shù)服務(wù)的*企業(yè)。精密儀器儀表企業(yè),集生產(chǎn)、制造、銷售與一體。是ISO90012000認(rèn)證單位,是國內(nèi)儀器品種全面,規(guī)模龐大的專業(yè)企業(yè)。產(chǎn)品涵蓋顯微鏡、水分測試儀、密度計(jì)、比重計(jì)、工具顯微鏡、投影儀、硬度計(jì)、測厚儀、放大鏡、天平、量具量儀、測繪儀器、測量儀器、實(shí)驗(yàn)儀器、電化學(xué)儀器、物理儀器、分析儀器、生化儀器、無損檢測、醫(yī)療器械、加工機(jī)械共18大類170余個(gè)小類共1800種產(chǎn)品。是目前國內(nèi)生產(chǎn)銷售精密儀器儀表品種Z多規(guī)模較大的專業(yè)企業(yè)之一。

          水分儀,密度計(jì)

           主要技術(shù)參數(shù):

          規(guī)格型號(hào)

          YED5100(標(biāo)配)

          YED5100(高配)

          執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

          ISO   13320-1:1999;GB/T19077.1-2008

          測試范圍

          0.1μm -600μm

          0.1μm -800μm

          探測器通道數(shù)

          48

          48

          準(zhǔn)確性誤差

          <1%(國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值)

          重復(fù)性誤差

          <1%(國家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值)

          免排氣泡

          具備免排氣泡設(shè)計(jì),無氣泡干擾數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確

          誤操作保護(hù)

          儀器具備誤操作自我保護(hù)功能,儀器對(duì)誤操作不響應(yīng)

          激光器參數(shù)

          He-Ne激光器  λ=632.8nm,  p>2mW 

          分散方法

          超聲

          頻率:f=40KHz,功率:p=80W,時(shí)間:隨意可調(diào)

          循環(huán)、攪拌

          循環(huán)攪拌一體化設(shè)計(jì),轉(zhuǎn)速:100-33950rpm轉(zhuǎn)速可調(diào)

          循環(huán)流量

          額定流量:0-10L/min可調(diào)   額定功率:25W

          樣品池

          自行設(shè)計(jì)沸騰式樣品池,分散效果更好,容量:190-600mL均可正常測試

          軟件功能

          分析模式

          包括自由分布、R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布、按目分級(jí)統(tǒng)計(jì)模式等,滿足不同行業(yè)對(duì)被測樣品粒度統(tǒng)計(jì)方式的不同要求

          統(tǒng)計(jì)方式

          體積分布和數(shù)量分布,以滿足不同行業(yè)對(duì)于粒度分布的不同統(tǒng)計(jì)方式

          統(tǒng)計(jì)比較

          可針對(duì)多條測試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)比較分析,可明顯對(duì)比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時(shí)間測試結(jié)果的差異,對(duì)工業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強(qiáng)的實(shí)際意義

          自行DIY顯示模板

          用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù),根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)粒徑區(qū)間求百分比,以滿足不同行業(yè)對(duì)粒度測試的表征方式。徑距、*性、區(qū)間累積等等

          測試報(bào)告

          測試報(bào)告可導(dǎo)出Word、Excel、圖片(Bmp)和文本(Text)等多種形式的文檔,滿足在任何場合下查看測試報(bào)告以及科研文章中引用測試結(jié)果

          多語言支持

          中英文語言界面支持,還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語言界面。

          智能操作模式

          真正全自動(dòng)無人干預(yù)操作,無人為因素干擾,您只需按提示加入待測樣品即可,測試結(jié)果的重復(fù)性更好。

          操作模式

          電腦操作

          測試速度

          <2min/次(不含樣品分散時(shí)間)

          體積

          1170mm*460mm*470mm

          重量

          35Kg

           

          散射理論的研究開始于上一世紀(jì)的70年代。1871年,瑞利(Lord Rayleigh)首先提出了*的瑞利散射定律,并用電子論的觀點(diǎn)解釋了光散射的本質(zhì)。瑞利散射定律的適用條件是散射體的尺寸要比光波波長小。

           

          1908年,米氏(G. Mie)通過電磁波的麥克斯韋方程,解出了一個(gè)關(guān)于光散射的嚴(yán)格數(shù)學(xué)解,得出了任意直徑、任意成分的均勻粒子的散射規(guī)律,這就是*的米氏理論。

           

          1957年, H. C. Van de Hulst 出版了關(guān)于微小粒子光散射現(xiàn)象的專著,總結(jié)了粒子散射的普遍規(guī)律,受到科技界人士的廣泛注意,這本專著被認(rèn)為是光散射理論領(lǐng)域的經(jīng)典文獻(xiàn)。

           

          1969年,M . Kerker 系統(tǒng)論述了光及電磁波散射的一般規(guī)律,為散射理論的進(jìn)一步發(fā)展做出了貢獻(xiàn)。1983年,C. F. Bo hren ,O. R. Huff man綜合前人的成果,又發(fā)表了關(guān)于微小粒子對(duì)光散射及吸收的一般規(guī)律,更全面地解釋了光的各種散射現(xiàn)象。至此,散射理論的體系建立起來了。

           

          1976年J . Swit henbank 等人利用米氏理論在時(shí)( d為散射粒子的直徑,λ為光波波長)的近似式 ——夫瑯和費(fèi)(Franhofer)衍射理論發(fā)展了激光粒度儀,開辟了散射理論在計(jì)量測試中的又一新領(lǐng)域。

           

          由于光散射法適用范圍寬,測量時(shí)不受顆粒光學(xué)特性及電學(xué)特性參數(shù)的影響,因此在隨后的三十年時(shí)間內(nèi)已成為粒度計(jì)量中zui為重要的方式之一。



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