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FPIXRF-LN2 LN2探測(cè)器
- 公司名稱(chēng) 孚光精儀(中國(guó))有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) FPIXRF-LN2
- 產(chǎn)地 www.f-lab.cn/fushetance.html
- 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
- 更新時(shí)間 2024/5/10 16:31:23
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè) |
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LN2探測(cè)器是美國(guó)進(jìn)口的高性能固態(tài)能量色散X射線(xiàn)能譜儀探測(cè)器。 SiLi探測(cè)器可用于所有應(yīng)用,也可用于特殊的多元件設(shè)計(jì)。
低能量響應(yīng)
LN2探測(cè)器提供優(yōu)異的輕元素X射線(xiàn)響應(yīng)。 低能x射線(xiàn)在硅中不會(huì)滲透很遠(yuǎn),因此大多數(shù)事件發(fā)生得非常接近晶體的前接觸,其中電荷的分?jǐn)?shù)容易損失。 這可能導(dǎo)致峰值變寬,拖尾甚至能量轉(zhuǎn)換。 I特殊前接觸技術(shù)對(duì)于較小化這些影響至關(guān)重要,從而獲得了的光譜性能,直到鈹K X射線(xiàn)。
終,在光譜低能量端的X射線(xiàn)檢測(cè)器的效率取決于入口窗口的選擇。 IXRF提供全面的檢測(cè)器窗口,以適應(yīng)所有應(yīng)用。
高能量響應(yīng)
諸如X射線(xiàn)熒光(XRF)的應(yīng)用通常在寬范圍的能量下需要良好的光譜響應(yīng)。 IXRF系統(tǒng)的Si(Li)晶體可根據(jù)應(yīng)用使用不同的有源厚度。 在更高的X射線(xiàn)能量下,更深的晶體更有效。 IXRF的Si(Li)晶體即使在高能量下也保持了優(yōu)異的背景峰值和低尾部性能。
SiLi探測(cè)器的典型規(guī)格 | ||||
有效面積(mm2) | 10 | 30 | 50 | 80 |
分辨率[MnKa](eV) | 127 | 133 | 139 | 148 |
峰值:背景 | 20000:1 | 20000:1 | 15000:1 | 10000:1 |
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