AFM5500M 日立全自動(dòng)型原子力顯微鏡
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 日立科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào) AFM5500M
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2017/7/20 16:44:59
- 訪問(wèn)次數(shù) 2079
產(chǎn)品標(biāo)簽
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日立全自動(dòng)型原子力顯微鏡簡(jiǎn)介：
AFM5500M 是操作性和測(cè)量精度大幅提高，配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對(duì)中，測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開(kāi)發(fā) 的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且，通過(guò)SEM-AFM共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
參數(shù)：
| 馬達(dá)臺(tái) | 自動(dòng)精密馬達(dá)臺(tái) zui大觀察范圍：100 mm （4英寸）全域 馬達(dá)臺(tái)移動(dòng)范圍：XY ± 50 mm、Z ≥21 mm zui小步距：XY 2 µm、Z 0.04 µm |
|---|---|
| zui大樣品尺寸 | 直徑：100 mm（4英寸）、厚度：20 mm 樣品重量：2 kg |
| 掃描范圍 | 200 µm x 200 µm x 15 µm （XY：閉環(huán)控制 / Z：感應(yīng)器監(jiān)控） |
| RMS噪音水平* | 0.04 nm 以下（高分辨率模式） |
| 復(fù)位精度* | XY: ≤15 nm(3σ、計(jì)量10 μm的標(biāo)準(zhǔn)間距) / Z: ≤1 nm (3σ、計(jì)量100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)深度) |
| XY直角度 | ±0.5° |
| BOW* | 2 nm/50 µm 以下 |
| 檢測(cè)方式 | 激光檢測(cè)（低干涉光學(xué)系統(tǒng)） |
| 光學(xué)顯微鏡 | 放大倍率：x1 ～ x7 視野范圍：910 µm x 650 µm ～ 130 µm x 90 µm 顯示倍率：x465 ～ x3,255（27英寸顯示器） |
| 減震臺(tái) | 臺(tái)式主動(dòng)減震臺(tái) 500 mm（W） x 600 mm （D） x 84 mm （H）、約28 kg |
| 防音罩 | 750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H)、 約 237 kg |
| 大小?重量 | 400 mm（W） x 526 mm（D） x 550 mm（H）、約 90 kg |
* 參數(shù)與設(shè)備配置及放置環(huán)境相關(guān)。
| OS | Windows7 |
|---|---|
| RealTune®II | 自動(dòng)調(diào)節(jié)懸臂振幅、接觸力、掃描速率以及信號(hào)反饋 |
| 操作畫面 | 操作導(dǎo)航功能、多窗口顯示功能（測(cè)試/分析）、3D圖像疊加功能、掃描范圍/測(cè)量履歷顯示功能、數(shù)據(jù)批處理分析功能、探針評(píng)估功能 |
| X, Y, Z掃描驅(qū)動(dòng)電壓 | 0～150 V |
| 時(shí)時(shí)測(cè)試（像素點(diǎn)） | 4畫面（zui大2,048 x 2,048） 2畫面（zui大4,096 x 4,096） |
| 長(zhǎng)方形掃描 | 2:1、4:1、8:1、16:1、32:1、64:1、128:1、256:1、512:1、1,024:1 |
| 分析軟件 | 3D顯示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分析 |
| 自動(dòng)控制功能 | 自動(dòng)更換懸臂、自動(dòng)激光對(duì)中 |
| 大小?重量 | 340 mm（W） x 503 mm（D） x 550 mm（H）、約 34 kg |
| 電源 | AC100 ～ 240 V ±10% 交流 |
| 測(cè)試模式 | 標(biāo)配：AFM、DFM、PM（相位）、FFM 選配：SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM（AC）、EFM（DC）、MFM |
* WINDOWS 是、美國(guó) Microsoft Corporation 在美國(guó)及美國(guó)以外國(guó)家注冊(cè)商標(biāo)。
* RealTune是日立高新科學(xué)公司在日本、美國(guó)以及歐洲的注冊(cè)商標(biāo)。
| 可適用的日立SEM型號(hào) | SU8240、SU8230（H36 mm型）、SU8220（H29 mm型） |
|---|---|
| 樣品臺(tái)大小 | 41 mm（W） x 28 mm（D） x 16 mm （H） |
| zui大樣品尺寸 | Φ20 mm x 7 mm |
| 對(duì)中精度 | ±10 µm （AFM對(duì)中精度） |
日立全自動(dòng)型原子力顯微鏡特點(diǎn)：
1. 自動(dòng)化功能
高度集成自動(dòng)化功能追求高效率檢測(cè)
降低檢測(cè)中的人為操作誤差
4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)
自動(dòng)更換懸臂功能
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