我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、液相色譜儀（LC）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,有害物質(zhì)(ROHS和鹵素)、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素檢驗(yàn)等等?？傊N售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)。

測(cè)試ROHS機(jī)

1. RoHS指令

2. WEEE指令

3. EN71-3指令

4. 94/62/EC指令

5. 2006/66/EC指令

6. EN14582指令                          測(cè)試ROHS光譜檢測(cè)儀器

X射線熒光光譜分析儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石化、玩具、大型工程、鍋爐制造、再生資源金屬、玻璃的回收等。

X射線熒光光譜分析儀，被原子能機(jī)構(gòu)和環(huán)境規(guī)劃暑確認(rèn)為有效檢的應(yīng)對(duì)有害元素檢測(cè)、合金分析、礦石分析、環(huán)境分析的產(chǎn)品，目前正服務(wù)于伊朗核查和歐美各大海關(guān)等重要部門。

部分客戶

便攜式RoHS檢測(cè)儀特點(diǎn)

1、可裝在支架上做臺(tái)式使用，也可拿在手上做現(xiàn)場(chǎng)使用，方便靈活。

2．檢測(cè)速度快，只需要幾秒種即可顯示樣品中的有害物質(zhì)含量，通常45~60秒即可。

3、無(wú)需特別制樣，很小的樣品也能測(cè)試。

4、度，重復(fù)性好。

5、開(kāi)機(jī)無(wú)需預(yù)熱，無(wú)需液氮制冷，運(yùn)行成本低。

6、合金、聚合物、塑料、混合物、PVC等自動(dòng)識(shí)別材料。無(wú)需預(yù)先知道材料類型。

7、樣品無(wú)特殊要求，液體、固體、粉末、灰漿、過(guò)濾物、實(shí)核體、碎片、微粒、袋裝皆可。

8、采用工業(yè)級(jí)產(chǎn)品設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，適應(yīng)各種不同工作環(huán)境。

9、測(cè)試結(jié)果清晰顯示，PPM，光譜或波峰強(qiáng)度。

10、可檢測(cè)多種材料如合金、聚合物、塑料、混合物等。

便攜式RoHS檢測(cè)儀適用法規(guī)

• RoHS指令

• WEEE指令

• EN71-3指令

• 94/62/EC指令

• 2006/66/EC指令

• EN14582指令

便攜式RoHS檢測(cè)儀用途及技術(shù)規(guī)格

• 元素分析范圍：鈦（）到鈾（U）之間的所有元素。

 1）RoHS/WEEE模式:Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個(gè)元素。

         2）Halogen Free模式：Br、P、S、Cl、K、Ca、、、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb等28個(gè)元素。

臺(tái)式儀器介紹：

環(huán)保ROHS監(jiān)管項(xiàng)目的專家

符合各種監(jiān)管法規(guī)

用于各種環(huán)保ROHS監(jiān)管項(xiàng)目的Xpert是一款可快速完成檢測(cè)的性價(jià)比的XRF分析儀。這款經(jīng)過(guò)優(yōu)化的分析儀可以對(duì)金屬、塑料和混合材料中的鉛（Pb）、鎘（Cd）、砷（As）、（Hg）、鉻（Cr）及其它有毒元素進(jìn)行分析。它可以為大多數(shù)材料提供*處于典型的監(jiān)管限制范圍內(nèi)的檢出限。

優(yōu)勢(shì)：

.對(duì)受限元素的快速無(wú)損探測(cè)
可獲得低達(dá)1 ppm檢出限的結(jié)果
可保證X射線束在封閉的狀態(tài)下進(jìn)行檢測(cè)的安全XRF系統(tǒng)
可將結(jié)果歸檔，以備合規(guī)監(jiān)查之用

使用方便

通過(guò)LED燈照明的寬大的樣件檢測(cè)艙
分析指示燈，360°*可見(jiàn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量，可進(jìn)行檢測(cè)數(shù)據(jù)的歸檔
帶有USB連接端口，可速導(dǎo)出數(shù)據(jù)，連接打印機(jī)、外置鍵盤及遙控裝置

 快速、、的技術(shù)

級(jí)硅漂移探測(cè)器（SDD），用于進(jìn)行低檢出限的探測(cè)
4W X射線管，200 µA電流（），以及優(yōu)化的光束設(shè)置，可確保儀器進(jìn)行的分析
浮點(diǎn)處理器在數(shù)秒之內(nèi)可以迅速得出分析結(jié)果
智能傳感器可以自動(dòng)將被檢樣件分為塑料、合金或混合物類型，以得到的檢測(cè)結(jié)果
內(nèi)置攝像頭可記錄分析圖像
低達(dá)3毫米的微點(diǎn)準(zhǔn)直功能可以測(cè)量微小樣件或樣件中的微小區(qū)域

測(cè)試ROHS機(jī)