KSC-230 美國磁通QQI 磁粉探傷試片
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 徐州晟浩電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 KSC-230
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2023/12/4 13:18:44
- 訪問次數(shù) 1915
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美國磁通I 磁粉探傷試片
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于：將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率；確定磁場方向和相對的磁場強度；平衡多向磁場。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形，用于縱向和軸向磁場。
型號：KSC-430 標準I試片，缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.004英寸。
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