Agilent E4991A價(jià)格E4991A射頻阻抗/材料分析儀
Agilent 射頻阻抗/材料分析儀
主要特性與技術(shù)指標(biāo) 基本精度
?基本精度+/-0.8%
掃描參數(shù)
?頻率:1 MHz 至3 GHz
?振蕩器電平:高達(dá)1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
?DC 偏置電平(選件-001):+/- 40V 或+/- 50 mA
更多特性
?Windows 風(fēng)格的用戶界面
?內(nèi)置VBA 編程功能
?通過LAN 接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
多功能測(cè)量選件
?介電/磁性材料測(cè)量(選件-002)
?可靠的晶圓測(cè)量(選件-010)
?溫度特性測(cè)量(選件-007)
描述
射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測(cè)量性能和功能強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計(jì)人員測(cè)量3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能,幫助他們進(jìn)行研發(fā)工作。與反射測(cè)量技術(shù)不同, 使用射頻電流–電壓(RF-IV)技術(shù),可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測(cè)量結(jié)果。基本阻抗精度是+/-0.8%。高Q 精度有利于進(jìn)行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有1 MHz到3 GHz 的掃描范圍和1 mHz的分辨率。
材料評(píng)估
提供完整的介電/磁性材料測(cè)量解決方案,涵蓋1 MHz 至1 GHz的寬頻率范圍。
晶圓測(cè)量
借助-010 探針臺(tái)連接套件,您可輕松地地將Agilent 連接到射頻探頭系統(tǒng)(由Cascade Microtech 提供)上進(jìn)行晶圓測(cè)量。
溫度特性評(píng)估
溫度特性測(cè)試套件-007 是一款為元器件和材料進(jìn)行溫度特性測(cè)量的新型解決方案。該選件可在- 55°C 至+ 150°C 廣泛的溫度范圍內(nèi)提供高精度的溫度特性分析功能,以及強(qiáng)大的溫度漂移補(bǔ)償功能。