MagnaRay 波譜儀與 Thermo Scientific Noran System 7第七代高性能能譜儀無縫集成。MagnaRay能夠在能譜儀采集數(shù)據(jù)的同時， 自動確定待分析元素并進行所有的 WDS 操作。 波譜儀的設(shè)置和操作*由內(nèi)置的專家系統(tǒng)智能化自動操控處理。 無論是針對譜峰重疊分析、痕量元素確定分析還是準(zhǔn)確地定量分析，MagnaRay 都能輕松、快捷的完成分析。

WDS Precision and Confidence with EDS Ease

*的微區(qū)分析結(jié)果
高分辨率
痕量元素高靈敏度分析
全波譜范圍內(nèi)無間斷覆蓋
保證靈敏度指標(biāo)

Speed and Precision
可直接驅(qū)動衍射晶體和計數(shù)器的革命性設(shè)計使 MagnaRay在分析任意兩個 元素時，晶體切換時間低至 0.25 秒，從而實現(xiàn)多元素快速分析（傳統(tǒng)波譜儀此時可能還在分析*個元素）
配置于直接驅(qū)動系統(tǒng)的編碼器確保角度精度低于0.001 度--確保波譜峰始終處于正確位置

SEM and Low Voltage Applications
X 射線光學(xué)部件延伸至掃描電鏡室，類似于能譜儀固態(tài)探測器
適用于對高靈敏度、輕元素檢測、譜峰重疊、高峰背比或高空間分辨率有嚴(yán)格要求的應(yīng)用
提供低束流和低電壓操作條件下的高水平應(yīng)用性能

Sensitivity
X 射線路徑采用聚焦光學(xué)設(shè)計，能夠?qū)悠返姆瞧叫?X 光轉(zhuǎn)換為強烈、集中的平行光束，隨后利用其中一個衍射晶體進行布拉格衍射
采用獲得的毛細(xì)管和掠入射光學(xué)元件的混合聚焦光學(xué)設(shè)計，在高、低能段均可提供優(yōu)異的計數(shù)率
混合光學(xué)系統(tǒng)與一個單獨、可在低能段運行、氙元素窗口密封的正比計數(shù)器相連，與傳統(tǒng)氣體流氣式正比計數(shù)器相比，大大簡化了設(shè)計和操作，并改善了所有元素的分析通量

Nanoscale Analysis
*的峰背比和*的 X 射線采集速率， 適用于痕量元素分析
操作條件取決于樣品和 掃描電鏡，而非波譜儀
專為現(xiàn)代納米級材料分析所需的操作條件而設(shè)計，實現(xiàn)了基于 SEM 的納米分析
解決高能量、大電流傳統(tǒng) WDS 經(jīng)常遇到的樣品荷電和樣品損壞等問題
適用于活性體積較小的樣品，例如納米顆粒或薄膜
集成*波譜儀功能，無需高加速電壓或大束流

Qualitative Analysis
當(dāng)發(fā)生明顯譜峰重疊時，配合能譜儀使用將有助于樣品定性分析
當(dāng)譜峰重疊現(xiàn)象在能譜圖中較為嚴(yán)重時，在能譜儀采集過程中能夠自動確定 Mo、S、Pb 或 Si、Ta、W 等元素是否存在

Quantitative Analysis
內(nèi)置的專家系統(tǒng)免除了對樣品位置、束流和光譜儀設(shè)置的顧慮
波譜儀會根據(jù)需要自動進行聚焦
利用能譜圖信息選擇zui合適的元素，對樣品和波譜儀進行聚焦以優(yōu)化操作
束流自動測定確保獲得準(zhǔn)確的定量結(jié)果

X-ray Maps and Linescans
與傳統(tǒng)能譜儀X射線面分析技術(shù)相比，波譜儀具有高峰背比性能，能夠為低濃度物質(zhì)生產(chǎn)高對比度X射線面分析圖像和線掃描曲線
輕松采集波譜分布圖和線掃描曲線，只需在 NORAN System 7 軟件的周期表中選擇一條元素線
波譜儀的所有參數(shù)可根據(jù)這一元素線自動設(shè)置為*運行條件
WDS 與 NORAN System 7 軟件之間的無縫集成意味著 EDS 操作員無需進行額外的培訓(xùn)