高溫烘箱,高溫老化試驗(yàn)箱,LED電子元器件高低溫試驗(yàn)箱,紫外線老化試驗(yàn)箱,LCD老化實(shí)驗(yàn)室,太陽能老化試驗(yàn)室
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執(zhí)滿足標(biāo)準(zhǔn) 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2 美國標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn)B:干熱 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn)A:低溫 美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗(yàn) 美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 美國半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗(yàn)方法 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 中國國家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法 中國國家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn) |
◇重慶高溫高濕試驗(yàn)箱,四川恒溫恒濕箱,交變濕熱箱型號(hào)規(guī)格及主要技術(shù)參數(shù) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱
電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷
電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱
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