華測電壓擊穿試驗(yàn)儀50KV PLC 控制

   華測電壓擊穿試驗(yàn)儀50KVPLC控制,主要適用于固體絕緣材料（如：塑料、橡膠、層壓材料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料及絕緣件）在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓的測試。

華測電壓擊穿試驗(yàn)儀技術(shù)指標(biāo):

●供電電源：220V AC    頻率：50HZ           設(shè)備功率：3KVA

●使用條件：環(huán)境溫度：（23±2）℃            環(huán)境濕度：（50±5）%

●zui大電壓：交流50kV 直流70Kv              試驗(yàn)方式：擊穿、耐壓、階梯升壓

●電壓精度：0-1kV≦5% ,1kV~20kV≦1.5%     電流精度：≦1.5%

●遠(yuǎn)程控制：可選配                           電流量程：30mA  

●升壓速率 0.1 kV/S、0.2 kV/S、0.5 kV/S、1.5 kV/S、2 kV/S

●控制系統(tǒng)：德國西門子PLC                     設(shè)備尺寸：700X500X1400

華測電壓擊穿試驗(yàn)儀產(chǎn)品優(yōu)勢技術(shù):

● TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：

目前國內(nèi)材料電壓擊穿試驗(yàn)儀采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理。對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。這也就是國產(chǎn)儀器維護(hù)率過高的主要原因。而華測獨(dú)立開發(fā)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對控制系統(tǒng)的防護(hù)。

●多級循環(huán)電壓采集技術(shù)：

材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級電壓瞬間下降一定比率來判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級循環(huán)采集技術(shù)對擊穿后的電壓采集將解決此難題。

●低通濾波電流監(jiān)測技術(shù):

高壓壓放電過程中將產(chǎn)生高頻信號。而無論是國產(chǎn)與進(jìn)口電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過程中無法將高頻信號處理。從而造成檢測不準(zhǔn)確。同時(shí)無論是采用磁通門或霍爾原理都存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號過大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分（隔離只起到屏蔽）。華測開發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻夾波信號處
理后，傳入PLC同時(shí)采用穩(wěn)壓技術(shù)而保證電流采集精度與保護(hù)采集元件。  

●雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：

采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器，目前電壓擊穿儀器大都具備過壓、過流保護(hù)系統(tǒng)，假如，過壓或過流元失效，何來防護(hù)試驗(yàn)儀器及操作人員安全。而華測*的雙系統(tǒng)相互制約，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。

華測電壓擊穿試驗(yàn)儀軟件功能:
●操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化；
●實(shí)時(shí)監(jiān)測：在實(shí)驗(yàn)過程中可以動態(tài)顯示試驗(yàn)曲線；
●數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗(yàn)結(jié)果方便導(dǎo)出。
●實(shí)驗(yàn)報(bào)告：自定義報(bào)告名稱，并對實(shí)驗(yàn)報(bào)告進(jìn)行打印；
●試驗(yàn)方式：直流試驗(yàn)和交流試驗(yàn)進(jìn)行選擇；
●試驗(yàn)方法：擊穿電壓、耐壓試驗(yàn)、階梯升壓試驗(yàn)多種選擇；
●參數(shù)設(shè)置：可以根據(jù)不同的試驗(yàn)方式及試驗(yàn)方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值
●校準(zhǔn)功能：可針對設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)設(shè)置；
●支持標(biāo)準(zhǔn)：支持國標(biāo)及美國標(biāo)準(zhǔn)；
●報(bào)警功能：軟件具備電壓、電流報(bào)警功能。