X射線熒光光譜儀;直讀光譜儀;涂鍍層測厚儀;顯微分析;刻蝕,沉積和生長;低溫恒溫器與超導(dǎo)磁體系統(tǒng);臺式磁共振(NMR)分析儀和低場磁共振成像(MRI);X光管和相關(guān)產(chǎn)品;低溫泵系統(tǒng)
ENERGY+應(yīng)用軟件包:將EDS/WDS*結(jié)合
- 從EDS譜圖中自動啟動WDS,快速簡捷地判斷是否有譜峰重疊
- DS給出快速的主元素鑒別,WDS的高分辨率用于負(fù)責(zé)鑒別在EDS中有重疊并不能分析的元素
- DS給出含量在0.5%以上的大多數(shù)元素定量分析結(jié)果,WDS 可以對含量低達(dá)PPM級的微量元素進(jìn)行定量分析
- EDS/WDS結(jié)合進(jìn)行元素的面分布/線分布
只需簡單地用鼠標(biāo)在能譜譜圖上拉亮您要進(jìn)行WDS掃描的范圍 ( 綠色部分)
WDS自動運行,并很快揭示出在看似對稱*的Si譜峰中存在W的譜峰