德國蔡司zeiss三維 X 射線測量技術

利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測量任務

基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導軌及轉臺，滿足客戶對精度的高要求。

測量與檢驗整體部件

ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機測量時，此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。

輕松且精準地進行多樣化特征檢測

利用 ZEISS METROTOM 計算機斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精準，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。

直觀簡易的軟件操作

僅需通過短時間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓課程，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內部。利用 ZEISS CALYPSO 可評估 CT 數(shù)據(jù)，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。

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